[0003] 本发明旨在提供一种可实现大小膜卷测试的薄膜电弱点测试仪控制系统，使仪器自动完成适应试样膜卷及成品膜卷测试的张力调节及张力控制模式切换，又可以实现分别针对成品膜卷与试样膜卷张力需要实现无极调速，可以适应大小膜卷测试的需要。
[0004] 技术方案：
[0005] 本发明采用了以下技术方案：
[0006] 包括成品膜卷检测传感器PH1、可编程逻辑控制器PLC、切换继电器K1，所述成品膜卷检测传感器PH1与可编程逻辑控制器PLC输入端电连接，所述切换继电器K1线包与可编程逻辑控制器PLC输出端电连接；
[0007] 还包括两个分别对应于成品膜卷的张力调节电位器W1、试样膜卷的张力调节电位器W2、磁粉制动器驱动器及两个分别用于成品膜卷张力控制的磁粉制动器Z1、试样膜卷张力控制的磁粉制动器Z2, 所述两个分别对应于成品膜卷张力调节电位器W1、试样膜卷的张力调节电位器W2并联在磁粉制动器驱动器的0-5V电压之间形成两组电压取样电路，成品膜卷、试样膜卷的张力调节电位器W1、W2的中间抽头分别通过切换继电器K1的一对常开常闭触点开关K1-1与磁粉制动器驱动器的模拟量输入端AV电连接，所述成品膜卷张力控制的磁粉制动器Z1、试样膜卷张力控制的磁粉制动器Z2的V+端分别通过切换继电器K1的另一对常开常闭触点开关K1-2与磁粉制动器驱动器的输出端V+电连接，成品膜卷张力控制的磁粉制动器Z1、试样膜卷张力控制的磁粉制动器Z2的V-端等电位与磁粉制动器驱动器的输出端V-电连接。
[0008] 进一步的，所述成品膜卷检测传感器PH1设置在仪器测试腔内，位于过渡辊与窗口之间且低于过渡辊中轴线。
[0009] 进一步的，所述切换继电器K1至少包含两对常开常闭触点开关。
[0010] 进一步的，所述成品膜卷张力调节电位器W1及试样膜卷的张力调节电位器W2设置在仪器操作面板上，其阻值均为4.7KΩ。
[0011] 作为本发明的优选，所述成品膜卷检测传感器PH1为E3F1-DS8C4型光电开关。
[0012] 作为本发明的优选，所述成品膜卷张力控制的磁粉制动器Z1为FX-0.6YN薄型磁粉制动器、试样膜卷张力控制的磁粉制动器Z2 为FX-0.3YN薄型磁粉制动器。
[0013] 综上所述本发明的有益效果：
[0014] 1.控制系统设有成品膜卷检测传感器PH1，当成品膜卷上薄膜引入测试腔进行测试时，成品膜卷检测传感器PH1将信号输入到PLC，PLC程序自动控制切换继电器K1动作，仪器自动变换成适应成品膜卷测试的张力调节及张力控制模式，当成品膜卷上薄膜未引入测试腔时，成品膜卷检测传感器PH1无信号输入到PLC，PLC程序自动控制切换继电器K1不动作，仪器自动变换成适应试样膜卷测试的张力调节及张力控制模式，无须人工切换操作，自动化程度高；
[0015] 2.成品膜卷与试样膜卷的张力调节，分别由成品膜卷的张力调节电位器W1及试样膜卷的张力调节电位器W2完成，互不影响且又分别无极可调，使成品膜卷与试样膜卷测试时薄膜均能获得较好的展平效果，进而达到测试数据真实可靠。
[0016] 附图说明：
[0017] 图1为本发明张力切换控制示意图。
[0018] 图2为本发明PLC控制示意图。
[0019] 图3为本发明仪器结构示意图。
[0020] 其中，1成品膜卷张力调节电位器W1， 2试样膜卷张力调节电位器W2，3磁粉制动器驱动器，4成品膜卷磁粉制动器Z1，5试样膜卷磁粉制动器Z2，10成品膜卷检测传感器PH1，11 PLC，12切换继电器K1，20试样膜卷（小膜卷）， 21成品膜卷（大膜卷），22过渡辊，23窗口。
[0021] 具体实施方式：
[0022] 如图1-3所示，本发明可实现大小膜卷测试的薄膜电弱点测试仪控制系统：包括成品膜卷检测传感器PH1(10)、可编程逻辑控制器PLC(11)、切换继电器K1(12)，所述成品膜卷检测传感器PH1(10)与可编程逻辑控制器PLC(11)输入端电连接，所述切换继电器K1(12)线包与可编程逻辑控制器PLC(11)输出端电连接；所述成品膜卷检测传感器PH1(10)设置在仪器测试腔内，位于过渡辊(22)与窗口(23)之间且低于过渡辊(22)中轴线，所述成品膜卷检测传感器PH1(10)为E3F1-DS8C4型光电开关；所述切换继电器K1(12)至少包含两对常开常闭触点开关；还包括两个分别对应于成品膜卷的张力调节电位器W1(1)、试样膜卷的张力调节电位器W2(2)、磁粉制动器驱动器(3)及两个分别用于成品膜卷张力控制的磁粉制动器Z1(4)、试样膜卷张力控制的磁粉制动器Z2(5), 所述两个分别对应于成品膜卷张力调节电位器W1(1)、试样膜卷的张力调节电位器W2(2)并联在磁粉制动器驱动器(3)的0-5V电压之间形成两组电压取样电路，成品膜卷张力调节电位器W1(1)、试样膜卷张力调节电位器W2(2)的中间抽头分别通过切换继电器K1(12)的一对常开常闭触点开关K1-1与磁粉制动器驱动器(3)的模拟量输入端AV电连接，所述成品膜卷张力控制的磁粉制动器Z1(4)、试样膜卷张力控制的磁粉制动器Z2(5)的V+端分别通过切换继电器K1(3)的另一对常开常闭触点开关K1-2与磁粉制动器驱动器(3)的输出端V+电连接，成品膜卷张力控制的磁粉制动器Z1(4)、试样膜卷张力控制的磁粉制动器Z2(5)的V-端等电位与磁粉制动器驱动器(3)的输出端V-电连接；所述成品膜卷张力调节电位器W1(1)及试样膜卷的张力调节电位器W2(2)设置在仪器操作面板上，其阻值均为4.7KΩ；所述成品膜卷张力控制的磁粉制动器Z1(4) 的连轴端同轴固定在成品辊转轴的一侧，所述成品膜卷张力控制的磁粉制动器Z1(4)为FX-0.6YN薄型磁粉制动器；所述试样膜卷张力控制的磁粉制动器Z2(5) 的连轴端同轴固定在试样辊转轴的一侧，所述试样膜卷张力控制的磁粉制动器Z2(5)为FX-0.3YN薄型磁粉制动器。
[0023] 采用上述可实现大小膜卷测试的薄膜电弱点测试仪控制系统的工作过程如下：
[0024] 1. 试样膜卷(20)测试时，小膜卷上的薄膜走膜路径与现有的电弱点测试仪一样，小膜卷上的薄膜不经过过渡辊，因此成品膜卷检测传感器PH1(10)检测不到成品膜卷上的薄膜，PLC(11)程序自动控制切换继电器K1(12)不动作，此时试样膜卷的张力调节电位器W2(2) 中间抽头通过常闭触点开关K1-1与磁粉制动器驱动器(3)的模拟量输入端AV电连接，试样膜卷张力控制的磁粉制动器Z2(5)V+端通过切换继电器K1(3)的另一常闭触点开关K1-2与磁粉制动器驱动器(3)的输出端V+电连接，通过试样膜卷的张力调节电位器W2(2)调节磁粉制动器驱动器(3)的输出端V+电压大小，与之相连的试样膜卷张力控制的磁粉制动器Z2(5)线圈电压大小正比与其对试样辊施加的阻力大小，可以方便地调节试样膜卷薄膜张力从而达到好的展平效果。
[0025] 2. 成品膜卷(21)测试时，移走试样辊上试样膜卷(20)，将成品膜卷(21)上的薄膜从后壁窗口(23)引入，经过过渡辊(22)后再按上面的走膜路径走膜, 成品膜卷(21)上的薄膜经过过渡辊(22)，成品膜卷检测传感器PH1(10)检测到成品膜卷上的薄膜，PLC(11)程序自动控制切换继电器K1(12)动作，此时成品膜卷的张力调节电位器W1(1) 中间抽头通过常开触点开关K1-1与磁粉制动器驱动器(3)的模拟量输入端AV电连接，成品膜卷张力控制的磁粉制动器Z1(4)V+端通过切换继电器K1(3)的另一常开触点开关K1-2与磁粉制动器驱动器(3)的输出端V+电连接，通过成品膜卷的张力调节电位器W1(1)调节磁粉制动器驱动器(3)的输出端V+电压大小，与之相连的成品膜卷张力控制的磁粉制动器Z1(4)线圈电压大小正比与其对成品辊施加的阻力大小，可以方便地调节成品膜卷薄膜张力从而达到好的展平效果。
[0026] 3.依此类推，当再次测试试样膜卷(20)时，移走成品膜卷(21)。
