[0029] 本发明提供的透镜驱动装置的光轴度测试方法实质上是指透镜驱动装置的静态光轴度测试方法。
[0030] 实施例1：
[0031] A）制作透镜驱动装置，请参见图1和图2，图1和图2中给出了透镜驱动装置的结构体系的一第一磁轭1，该第一磁轭1也可称为第一磁轭环，该第一磁轭环1构成有一底壁11和一磁轭腔12，在底壁11的中央位置开设有一透镜载体配合孔111，该透镜载体配合孔
111与磁轭腔12相通。第一磁轭1的外轮廓在本实施例中为矩形，更确切地讲为正方形，但是也可将其外轮廓设计为圆形或其它等效的形状。在第一磁轭1的四个角部各开设有一安装架插脚孔113，以便本发明在使用时与由图1示意的安装架10上的一组插脚101相配合，安装架10的中央构成有与透镜载体配合孔111相对应的透镜孔102。在前述的底壁11上并且围绕透镜载体配合孔111的四周以间隔状态开设有与磁轭腔12相通的一组透镜载体调整孔112，该组透镜载体调整孔112为螺纹孔，并且在该组透镜载体调整孔112上各配设有一用于对下面还要详细描述的透镜载体5进行调整的透镜载体调整螺钉1121。在本实施例中，一组透镜载体调整孔112的数量虽然示意为四个，但是并不受到该数量的限制，例如如果将其减少至两个或增加至四个以上，那么均应当视为本发明公开的技术内容范畴。
[0032] 给出了一绝缘片2，该绝缘片2置入于前述的磁轭腔12内，与底壁11朝向磁轭腔12的一侧接触，即与底壁11贴合，并且该绝缘片2的四周边缘侧面21与磁轭腔12的腔壁接触。由图所示，在绝缘片2的中央位置开设有一个形状以及大小与透镜载体配合孔111（圆形孔）相一致的并且位置与透镜载体配合孔111相对应的透镜载体让位孔22，以及在该绝缘片2的透镜载体让位孔22的孔壁上并且在对应于前述的一组透镜载体调整孔112的位置凹设有数量与透镜载体调整孔112的数量相等的调整螺钉让位凹腔221。由调整螺钉让位凹腔221起到避免绝缘片2对透镜载体调整螺钉1121产生干涉的作用。
[0033] 给出了容纳于前述磁轭腔12内的一第一簧片3和一垫片4，第一簧片3位于绝缘片2与垫片4之间，并且垫片4的垫片侧面41与磁轭腔12的腔壁接触。
[0034] 前述的第一簧片3由第一、第二簧片瓣31、32彼此配合（组合）构成，由图2的示意可知，第一、第二簧片瓣31、32以彼此对应的状态设置在绝缘片2与垫片4之间，在第一簧片瓣31的两端各构成有彼此连结的第一簧丝311，并且在第一簧片瓣31的两端还各开设有一第一透镜载体配合榫孔312；在第二簧片瓣32的两端各构成有相互连结的第二簧丝321，并且在第一簧片瓣32的两端还各开设有一第一透镜载体配合榫孔322。此外，在第一簧片瓣31的一端即图1所示位置状态的右端构成有一个第一端脚313 ，而在第二簧片瓣32的一端即图1所示位置状态的右端构成有一个第二端脚323，第一、第二端脚313、323 彼此对应，该第一、第二端脚313、323用于与外部驱动电源连接，构成透镜驱动装置的电气回路。
[0035] 上面已提及的透镜载体5也可以称为透镜安装架（以下同），该透镜载体5连同图示的线圈6容纳于磁轭腔12内，该透镜载体5的中央孔构成为透镜安装腔55（图中未示出透镜），并且该透镜载体5还与前述透镜载体配合孔111相配合，线圈6绕设在透镜载体5的外周壁上。
[0036] 前述的透镜载体5朝向底壁11的一侧与前述第一簧片3相配合，而朝向下面还要描述的第二簧片8的一侧与第二簧片8相配合。
[0037] 给出了一组磁石7，该一组磁石7嵌置在磁轭腔12内，并且各磁石7的内侧圆弧面71与线圈6相配合。上面已提及的第二簧片8容纳于磁轭腔12内，该第二簧片8朝向磁石7的一侧与磁石7贴触，并且同时与透镜载体5相配合，而第二簧片8的簧片边缘侧面81与磁轭腔12的腔壁贴触。在该第二簧片8的中央构成有一通孔82，该通孔82的直径与前述透镜载体配合孔111的直径相等。
[0038] 给出了一第二磁轭9，该第二磁轭9与前述第一磁轭1相配合，在该第二磁轭9的中央位置开设有直径与通孔82的直径相等的透镜载体孔91，前述的透镜载体5与该透镜载体孔91相配合，也就是说，藉由第一、第二磁轭1、9的彼此配合而对透镜载体5限定。
[0039] 由图1示，前述的第二簧片8具有一组第三簧丝83（四个），并且在该第二簧片8上开设有一组透镜载体配合销轴孔84。在透镜载体5朝向底壁11的一侧的上部构成有一对第一配合榫51，而下部构成有一对第二配合榫52，一对第一配合榫51的位置与前述第一透镜载体配合榫孔312相对应，并且与第一透镜载体配合榫孔312榫卯配合，而一对第二配合榫52的位置与前述第二透镜载体配合榫孔322相对应，并且与第二透镜载体配合榫孔322榫卯配合。在透镜载体5朝向前述第二簧片8的一侧并且在对应于一组透镜载体配合销轴孔84的位置构成有数量与一组透镜载体配合销轴孔84的数量相等的透镜载体配合销轴53，该透镜载体配合销轴53与一组透镜载体配合销轴孔84榫卯配合。
[0040] 优选地，在前述透镜载体5朝向底壁11的一侧的表面并且围绕透镜载体5的圆周方向凹陷而构成有一螺钉调整腔54，前述的透镜载体调整螺钉1121探入到该螺钉调整腔54内与透镜载体5接触，具体而言，与螺钉调整腔54的腔底壁接触。
[0041] 优选地，在前述的第二磁轭9朝向第一磁轭1的一侧的四周边缘部位构成有突起于第二磁轭9的表面的嵌合栈边92，该嵌合栈边92与磁轭腔插嵌配合。进而优选地，在第二磁轭9的四个角部各形成有一形状与磁石7的形状相吻合的磁石配合腔93，磁石7隔着第二簧片8 与磁石配合腔93相对应。
[0042] 由上述说明可知，由于第一、第二簧片3、8分别位于或称对应于透镜载体5的两端，从而由该第一、第二簧片3、8起到对透镜载体5在磁轭腔12内的一个可控区域内移动的作用，该可控区域的大小代表设置于透镜载体5上的透镜的行程大小，与第一、第二簧丝311、321以及第三簧丝83的劲度系数有关。第一、第二磁轭1、9彼此配合而构成封闭的空间对前述线圈6实施包围而形成一个电磁屏蔽罩，从而可以最大限度地避免线圈6产生电磁辐射对周围零部件产生不良电磁干扰。
[0043] 当前述所有部件安装完毕后再将微型的透镜载体调整螺钉1121对准透镜载体调整孔112旋入于第一磁轭1的底壁11上，并且直至将透镜载体调整螺钉1121触及透镜载体5的前述螺钉调整腔5的腔底壁。
[0044] 虽然各部件都是严格按照设计尺寸加工并且由磁轭腔12对各个部件进行限定，从理论上讲应当能够满足严苛的光轴度要求。然而，组装透镜驱动装置的各部件都有难以避免的公差存在，仅仅是程度差异而已，尤其是第一磁轭1的底壁11上的透镜载体配合孔111方向上的凸起高度的公差对于透镜光轴度具有决定性的影响；
[0045] B）请参见图4并且结合图3（a）和图3（b），在步骤A）中所述的透镜载体配合孔111内安装一测试用的标准镜头S，该标准镜头S具有一激光反射区域S1，先将安装有标准镜头S的透镜驱动装置安顿于激光测试仪中，在标准镜头S的表面的激光反射区域S1中选取与四个透镜载体调整螺钉1121相对应的四个测点a、b、c和d，再开启激光测试仪分别对准测点a、b、c和d投射即发射激光，每对准一个测点投射一次激光便按下一次激光测试仪的按钮一次，直至对测点a、b、c和d全部完成投射激光，从而在激光测试仪的显示装置的屏幕上显示激光反射区域S1内的测点a、b、c和d的激光反射最大行程值数据，申请人将测点a、b、c和d的激光反射最大行程值数据分别以La、Lb、Lc和Ld表示，并且虽然在图3（a）和图3（b）中仅标示了相对于测点a和测点c的激光反射最大行程值数据La和Lc，但并不会对领域内的技术人员的理解产生困惑；
[0046] C）请参见图3（a）和图3（b）以及图5（a）、图5（b），对由步骤B）得到的并且由所述屏幕显示的激光反射区域S1内的四个测点的激光反射最大行程值数据La、Lb、Lc和Ld进行观察，当测点a、b、c和d的激光反射最大行程值数据La、Lb、Lc和Ld相同时，则证明设置在透镜载体5上的标准镜头S的标准镜头光轴中心Z与所述第一磁轭1的底壁11平面的垂线之间即垂直方向之间的夹角为零度，进而证明透镜载体5处于水平状态，据此可判定透镜驱动装置的透镜载体5的静态光轴度佳，无需采用透镜载体调整螺钉1121对透镜载体5进行调整，具体以测点a和c为例说明：测试者可将测点a和c两点的激光反射最大行程值数据La和Lc进行比较，如果测点a的激光反射最大行程值数据La与测点c的激光反射最大行程值数据Lc相同即呈图5（a）所示状态，证明透镜载体5处于良好的水平位置，即透镜载体5的静态光轴度处于由图3（a）所示的优异的水平状态。当前述测点a、b、c和d的激光反射最大行程值数据La、Lb、Lc和Ld不同时即相异时，则证明设置在透镜载体5上的标准镜头S的标准镜头光轴中心Z与所述第一磁轭1的底壁11平面的垂线之间即底壁11平面的垂直方向之间的夹角θ不为零度，进而证明透镜载体5处于非水平状态，即处于由图3（b）所示的状态，对此便通过透镜载体调整螺钉1121调整而直至使透镜载体5的静态光轴度处于犹如图3（a）所示的水平状态，具体仍以测点a和c为例说明：测试者可将测点a和c两点的激光反射最大行程值数据La和Lc进行比较，如果测点a的激光反射最大行程值数据La与测点c的激光反射最大行程值数据Lc彼此存在显见的如图5（B）所示的偏差或称相异情形，证明透镜载体5的静态光轴度处于不良的水平位置，即透镜载体5的静态光轴度处于由3（b）所示的欠佳的水平状态。在该状态下，假设测点a处获得的激光反射行程最大值数据La小于测点c处获得的激光反射行程最大值数据Lc（图5示），证明测点c的倾斜位置低（图3（a）示），即测点a高于测点c，于是可用工具对由图3（b）所示位置状态的右下方的即对应于测点c的透镜载体调整螺钉1121调整，直至使透镜载体5调整至犹如图3（a）所示状态，达到对透镜载体5的静态光轴度调整之目的。依据举一反三之例，对于测点b和测点d如同对测点a和测点d的描述，即判定及调整依此类推。
[0047] 虽然申请人对测点a、b、c和d四个位置进行了解释，但是并不表示仅限于这四处。在实际应用中，透镜表面的任何位置都可以进行测试、调节。另外，测点的数量也可以根据实际情况进行增减，可以减小至两个或者是四个以上，但是至少要有对称的两个测点。综上，本发明的测试方法中测试点的位置和数量都可以根据情况进行调节和增减。
[0048] 本发明的测试方法与透镜驱动装置即与具有自调节光轴度的透镜驱动装置的设计发明结合起来达到测试、调节透镜驱动装置的静态光轴度的目的，但这并不表示本发明一定要同这种透镜驱动装置结合起来，任何种类型号的透镜驱动装置都可以采用本发明的测试方法判断透镜静态光轴度的优劣，从而明确透镜驱动装置静态光轴度不良的原因所在。
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