[0022] 本发明公开了一种采用钟控传输门自举绝热电路,以下结合附图实施例对本发明的采用钟控传输门自举绝热电路作进一步详细描述。
[0023] 实施例一:如图4(a)、图4(b)和图4(c)所示,一种采用钟控传输门自举绝热电路,包括第一PMOS管P1、第二PMOS管P2、第三PMOS管P3、第四PMOS管P4、第一NMOS管N1、第二NMOS管N2、第三NMOS管N3、第四NMOS管N4、第五NMOS管N5和第六NMOS管N6;第一PMOS管P1的源极、第二PMOS管P2的源极、第三NMOS管N3的漏极、第四NMOS管N4的漏极、第五NMOS管N5的栅极和第六NMOS管N6的栅极连接且其连接端为采用钟控传输门自举绝热电路的第一时钟端,第一PMOS管P1的栅极、第二PMOS管P2的漏极、第四PMOS管P4的漏极、第二NMOS管N2的漏极、第四NMOS管N4的源极和第六NMOS管N6的漏极连接且其连接端为采用钟控传输门自举绝热电路的输出端,第一PMOS管P1的漏极、第二PMOS管P2的栅极、第一NMOS管N1的漏极、第三NMOS管N3的源极、第三PMOS管P3的漏极和第五NMOS管N5的漏极连接且其连接端为采用钟控传输门自举绝热电路的反相输出端,第三PMOS管P3的栅极和第四PMOS管P4的栅极连接且其连接端为采用钟控传输门自举绝热电路的第二时钟端,第三PMOS管P3的源极、第五NMOS管N5的源极和第三NMOS管N3的栅极连接,第四PMOS管P4的源极、第六NMOS管N6的源极和第四NMOS管N4的栅极连接,第一NMOS管N1的栅极为采用钟控传输门自举绝热电路的输入端,第二NMOS管N2的栅极为采用钟控传输门自举绝热电路的反相输入端,第一NMOS管N1的源极和第二NMOS管N2的源极均接地;采用钟控传输门自举绝热电路的第一时钟端接入的时钟信号和采用钟控传输门自举绝热电路的第二时钟端接入的时钟信号幅值相同,但是相位相差180度。
[0024] 实施例二:如图4(a)、图4(b)和图4(c)所示,一种采用钟控传输门自举绝热电路,包括第一PMOS管P1、第二PMOS管P2、第三PMOS管P3、第四PMOS管P4、第一NMOS管N1、第二NMOS管N2、第三NMOS管N3、第四NMOS管N4、第五NMOS管N5和第六NMOS管N6;第一PMOS管P1的源极、第二PMOS管P2的源极、第三NMOS管N3的漏极、第四NMOS管N4的漏极、第五NMOS管N5的栅极和第六NMOS管N6的栅极连接且其连接端为采用钟控传输门自举绝热电路的第一时钟端,第一PMOS管P1的栅极、第二PMOS管P2的漏极、第四PMOS管P4的漏极、第二NMOS管N2的漏极、第四NMOS管N4的源极和第六NMOS管N6的漏极连接且其连接端为采用钟控传输门自举绝热电路的输出端,第一PMOS管P1的漏极、第二PMOS管P2的栅极、第一NMOS管N1的漏极、第三NMOS管N3的源极、第三PMOS管P3的漏极和第五NMOS管N5的漏极连接且其连接端为采用钟控传输门自举绝热电路的反相输出端,第三PMOS管P3的栅极和第四PMOS管P4的栅极连接且其连接端为采用钟控传输门自举绝热电路的第二时钟端,第三PMOS管P3的源极、第五NMOS管N5的源极和第三NMOS管N3的栅极连接,第四PMOS管P4的源极、第六NMOS管N6的源极和第四NMOS管N4的栅极连接,第一NMOS管N1的栅极为采用钟控传输门自举绝热电路的输入端,第二NMOS管N2的栅极为采用钟控传输门自举绝热电路的反相输入端,第一NMOS管N1的源极和第二NMOS管N2的源极均接地;采用钟控传输门自举绝热电路的第一时钟端接入的时钟信号和采用钟控传输门自举绝热电路的第二时钟端接入的时钟信号幅值相同,但是相位相差180度。
[0025] 本实施例中,第一PMOS管P1、第二PMOS管P2、第三PMOS管P3、第四PMOS管P4的宽长比均为 第三NMOS管N3和第四NMOS管N4的宽长比均为 第一NMOS管N1、第二NMOS管N2、第五NMOS管N5和第六NMOS管N6的宽长比均为
[0026] 将本发明的采用钟控传输门自举绝热电路在PTM32nm和现有的绝热ECRL结构绝热电路,在PTM32nm标准工艺下分别进行仿真。标准电压(1v)下,现有的绝热ECRL结构绝热电路在PTM32nm标准工艺下的仿真波形图如图7所示;标准电压(1v)下,本发明的采用钟控传输门自举绝热电路在PTM32nm标准工艺下的仿真波形图如图8所示。分析图7和图8可知,本发明的采用钟控传输门自举绝热电路具有正确的逻辑和明显的低功耗特性。
[0027] 本发明还公开了一种采用上述钟控传输门自举绝热电路的四级反相器/缓冲器,以下结合附图实施例对本发明的四级反相器/缓冲器作进一步详细描述。
[0028] 实施例一:如图4(a)、图4(b)、图4(c)、图5和图6所示,一种四级反相器/缓冲器,包括四个采用钟控传输门自举绝热电路,每一个采用钟控传输门自举绝热电路分别包括第一PMOS管P1、第二PMOS管P2、第三PMOS管P3、第四PMOS管P4、第一NMOS管N1、第二NMOS管N2、第三NMOS管N3、第四NMOS管N4、第五NMOS管N5和第六NMOS管N6;第一PMOS管P1的源极、第二PMOS管P2的源极、第三NMOS管N3的漏极、第四NMOS管N4的漏极、第五NMOS管N5的栅极和第六NMOS管N6的栅极连接且其连接端为采用钟控传输门自举绝热电路的第一时钟端,第一PMOS管P1的栅极、第二PMOS管P2的漏极、第四PMOS管P4的漏极、第二NMOS管N2的漏极、第四NMOS管N4的源极和第六NMOS管N6的漏极连接且其连接端为采用钟控传输门自举绝热电路的输出端,第一PMOS管P1的漏极、第二PMOS管P2的栅极、第一NMOS管N1的漏极、第三NMOS管N3的源极、第三PMOS管P3的漏极和第五NMOS管N5的漏极连接且其连接端为采用钟控传输门自举绝热电路的反相输出端,第三PMOS管P3的栅极和第四PMOS管P4的栅极连接且其连接端为采用钟控传输门自举绝热电路的第二时钟端,第三PMOS管P3的源极、第五NMOS管N5的源极和第三NMOS管N3的栅极连接,第四PMOS管P4的源极、第六NMOS管N6的源极和第四NMOS管N4的栅极连接,第一NMOS管N1的栅极为采用钟控传输门自举绝热电路的输入端,第二NMOS管N2的栅极为采用钟控传输门自举绝热电路的反相输入端,第一NMOS管N1的源极和第二NMOS管N2的源极均接地;第一个钟控传输门自举绝热电路的输入端为四级反相器/缓冲器的输入端,第一个钟控传输门自举绝热电路的反相输入端为四级反相器/缓冲器的反相输入端,第一个钟控传输门自举绝热电路的输出端和第二个钟控传输门自举绝热电路的输入端连接,第一个钟控传输门自举绝热电路的反相输出端和第二个钟控传输门自举绝热电路的反相输入端连接,第二个钟控传输门自举绝热电路的输出端和第三个钟控传输门自举绝热电路的输入端连接,第二个钟控传输门自举绝热电路的反相输出端和第三个钟控传输门自举绝热电路的反相输入端连接,第三个钟控传输门自举绝热电路的输出端和第四个钟控传输门自举绝热电路的输入端连接,第三个钟控传输门自举绝热电路的反相输出端和第四个钟控传输门自举绝热电路的反相输入端连接,第四个钟控传输门自举绝热电路的输出端为四级反相器/缓冲器的输出端,第四个钟控传输门自举绝热电路的反相输出端为四级反相器/缓冲器的反相输出端,第四个钟控传输门自举绝热电路的第一时钟端和第二个钟控传输门自举绝热电路的第二时钟端连接且其连接端为四级反相器/缓冲器的第一时钟端,第一个钟控传输门自举绝热电路的第一时钟端和第三个钟控传输门自举绝热电路的第二时钟端连接且其连接端为四级反相器/缓冲器的第二时钟端,第二个钟控传输门自举绝热电路的第一时钟端和第四个钟控传输门自举绝热电路的第二时钟端连接且其连接端为四级反相器/缓冲器的第三时钟端,第一个钟控传输门自举绝热电路的第二时钟端和第三个钟控传输门自举绝热电路的第一时钟端连接且其连接端为四级反相器/缓冲器的第四时钟端;四级反相器/缓冲器的第一时钟端接入第一时钟信号CLK1,四级反相器/缓冲器的第二时钟端接入第二时钟信号CLK2,四级反相器/缓冲器的第三时钟端接入第三时钟信号CLK3,四级反相器/缓冲器的第四时钟端接入第四时钟信号CLK4,第一时钟信号CLK1、第二时钟信号CLK2、第三时钟信号CLK3和第四时钟信号CLK4的幅值相同,第一时钟信号CLK1和第二时钟信号CLK2的相位相差90度,第一时钟信号CLK1和第三时钟信号CLK3的相位相差180度,第一时钟信号CLK1和第四时钟信号CLK4的相位相差270度。
[0029] 实施例二:如图4(a)、图4(b)、图4(c)、图5和图6所示,一种四级反相器/缓冲器,包括四个采用钟控传输门自举绝热电路,每一个采用钟控传输门自举绝热电路分别包括第一PMOS管P1、第二PMOS管P2、第三PMOS管P3、第四PMOS管P4、第一NMOS管N1、第二NMOS管N2、第三NMOS管N3、第四NMOS管N4、第五NMOS管N5和第六NMOS管N6;第一PMOS管P1的源极、第二PMOS管P2的源极、第三NMOS管N3的漏极、第四NMOS管N4的漏极、第五NMOS管N5的栅极和第六NMOS管N6的栅极连接且其连接端为采用钟控传输门自举绝热电路的第一时钟端,第一PMOS管P1的栅极、第二PMOS管P2的漏极、第四PMOS管P4的漏极、第二NMOS管N2的漏极、第四NMOS管N4的源极和第六NMOS管N6的漏极连接且其连接端为采用钟控传输门自举绝热电路的输出端,第一PMOS管P1的漏极、第二PMOS管P2的栅极、第一NMOS管N1的漏极、第三NMOS管N3的源极、第三PMOS管P3的漏极和第五NMOS管N5的漏极连接且其连接端为采用钟控传输门自举绝热电路的反相输出端,第三PMOS管P3的栅极和第四PMOS管P4的栅极连接且其连接端为采用钟控传输门自举绝热电路的第二时钟端,第三PMOS管P3的源极、第五NMOS管N5的源极和第三NMOS管N3的栅极连接,第四PMOS管P4的源极、第六NMOS管N6的源极和第四NMOS管N4的栅极连接,第一NMOS管N1的栅极为采用钟控传输门自举绝热电路的输入端,第二NMOS管N2的栅极为采用钟控传输门自举绝热电路的反相输入端,第一NMOS管N1的源极和第二NMOS管N2的源极均接地;第一个钟控传输门自举绝热电路的输入端为四级反相器/缓冲器的输入端,第一个钟控传输门自举绝热电路的反相输入端为四级反相器/缓冲器的反相输入端,第一个钟控传输门自举绝热电路的输出端和第二个钟控传输门自举绝热电路的输入端连接,第一个钟控传输门自举绝热电路的反相输出端和第二个钟控传输门自举绝热电路的反相输入端连接,第二个钟控传输门自举绝热电路的输出端和第三个钟控传输门自举绝热电路的输入端连接,第二个钟控传输门自举绝热电路的反相输出端和第三个钟控传输门自举绝热电路的反相输入端连接,第三个钟控传输门自举绝热电路的输出端和第四个钟控传输门自举绝热电路的输入端连接,第三个钟控传输门自举绝热电路的反相输出端和第四个钟控传输门自举绝热电路的反相输入端连接,第四个钟控传输门自举绝热电路的输出端为四级反相器/缓冲器的输出端,第四个钟控传输门自举绝热电路的反相输出端为四级反相器/缓冲器的反相输出端,第四个钟控传输门自举绝热电路的第一时钟端和第二个钟控传输门自举绝热电路的第二时钟端连接且其连接端为四级反相器/缓冲器的第一时钟端,第一个钟控传输门自举绝热电路的第一时钟端和第三个钟控传输门自举绝热电路的第二时钟端连接且其连接端为四级反相器/缓冲器的第二时钟端,第二个钟控传输门自举绝热电路的第一时钟端和第四个钟控传输门自举绝热电路的第二时钟端连接且其连接端为四级反相器/缓冲器的第三时钟端,第一个钟控传输门自举绝热电路的第二时钟端和第三个钟控传输门自举绝热电路的第一时钟端连接且其连接端为四级反相器/缓冲器的第四时钟端;四级反相器/缓冲器的第一时钟端接入第一时钟信号CLK1,四级反相器/缓冲器的第二时钟端接入第二时钟信号CLK2,四级反相器/缓冲器的第三时钟端接入第三时钟信号CLK3,四级反相器/缓冲器的第四时钟端接入第四时钟信号CLK4,第一时钟信号CLK1、第二时钟信号CLK2、第三时钟信号CLK3和第四时钟信号CLK4的幅值相同,第一时钟信号CLK1和第二时钟信号CLK2的相位相差90度,第一时钟信号CLK1和第三时钟信号CLK3的相位相差180度,第一时钟信号CLK1和第四时钟信号CLK4的相位相差270度。
[0030] 本实施例中,第一PMOS管P1、第二PMOS管P2、第三PMOS管P3、第四PMOS管P4的宽长比均为 第三NMOS管N3和第四NMOS管N4的宽长比均为 第一NMOS管N1、第二NMOS管N2、第五NMOS管N5和第六NMOS管N6的宽长比均为
[0031] 为了验证本发明的四级反相器/缓冲器的优越性,将本发明的四级反相器/缓冲器和现有的四级反相器/缓冲器在PTM32nm标准工艺下的各种性能进行对比。使用电路仿真工具HSPICE在电路的输入频率为100MHz、200MHz,负载分别为10fF、20fF、30fF、40fF的条件下对两种电路结构进行了仿真比较分析,PTM工艺库对应的标准电源电压为1V。
[0032] 表1为在PTM32nm标准工艺,输入频率为100MHz,负载为10fF下本发明的四级反相器/缓冲器与现有的四级反相器/缓冲器在100ns-200ns内性能比较。
[0033] 表1
[0034]
[0035] 从表1中可以得出:本发明的四级反相器/缓冲器和现有的四级反相器/缓冲器相比较,延时降低了28%,平均总功耗降低了44%,功耗延时积降低了60%。
[0036] 表2为在PTM32nm标准工艺,输入频率为100MHz,负载为20fF下本发明的四级反相器/缓冲器和现有的四级反相器/缓冲器在100ns-200ns内性能比较。
[0037] 表2
[0038]
[0039] 从表2中可以得出:本发明的四级反相器/缓冲器和现有的四级反相器/缓冲器相比较,延时降低了30%,平均总功耗降低了47%,功耗延时积降低了63%。
[0040] 表3为在PTM32nm标准工艺,输入频率为100MHz,负载为30fF下本发明的四级反相器/缓冲器和现有的四级反相器/缓冲器在100ns-200ns内性能比较。
[0041] 表3
[0042]
[0043] 从表3中可以得出:本发明的四级反相器/缓冲器和现有的四级反相器/缓冲器相比较,延时降低了32%,平均总功耗降低了51%,功耗延时积降低了66%。
[0044] 表4为在PTM32nm标准工艺,输入频率为100MHz,负载为40fF下本发明的四级反相器/缓冲器和现有的四级反相器/缓冲器在100ns-200ns内性能比较。
[0045] 表4
[0046]
[0047] 从表4中可以得出:本发明的四级反相器/缓冲器和现有的四级反相器/缓冲器相比较,延时降低了32%,平均总功耗降低了54%,功耗延时积降低了68%。
[0048] 表5为在PTM32nm标准工艺,输入频率为200MHz,负载为10fF下本发明的四级反相器/缓冲器和现有的四级反相器/缓冲器在100ns-200ns内性能比较。
[0049] 表5
[0050]
[0051] 从表5中可以得出:本发明的四级反相器/缓冲器和现有的四级反相器/缓冲器相比较,延时降低了28%,平均总功耗降低了47%,功耗延时积降低了62%。
[0052] 表6为在PTM32nm标准工艺,输入频率为200MHz,负载为20fF下本发明的四级反相器/缓冲器和现有的四级反相器/缓冲器在100ns-200ns内性能比较。
[0053] 表6
[0054]
[0055] 从表6中可以得出:本发明的四级反相器/缓冲器和现有的四级反相器/缓冲器相比较,延时降低了30%,平均总功耗降低了49%,功耗延时积降低了64%。
[0056] 表7为在PTM32nm标准工艺,输入频率为200MHz,负载为30fF下本发明的四级反相器/缓冲器和现有的四级反相器/缓冲器在100ns-200ns内性能比较。
[0057] 表7
[0058]
[0059] 从表7中可以得出:本发明的四级反相器/缓冲器和现有的四级反相器/缓冲器相比较,延时降低了32%,平均总功耗降低了54%,功耗延时积降低了68%。
[0060] 表8为在PTM32nm标准工艺,输入频率为200MHz,负载为40fF下本发明的四级反相器/缓冲器和现有的四级反相器/缓冲器在100ns-200ns内性能比较。
[0061] 表8
[0062]
[0063] 从表8中可以得出:发明的四级反相器/缓冲器和现有的四级反相器/缓冲器相比较,延时降低了32%,平均总功耗降低了59%,功耗延时积降低了72%。
[0064] 由上述的比较数据可见,在不影响电路性能的前提下,本发明的四级反相器/缓冲器和现有的四级反相器/缓冲器相比较,工作频率越大,负载越大,延时、功耗和功耗延时积优化程度也越大。