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寻找关于G01Q:扫描探针技术领域相关可售专利
G01Q领域相关在售专利
G01Q大组
G01Q10/00:扫描或定位设备,即主动控制探针的运动或位置的设备
G01Q20/00:监测探针的运动或位置
G01Q30/00:用于辅助或改进扫描探针技术或设备的辅助手段,例如显示或数据处理装置
G01Q40/00:校准,例如探针的
G01Q60/00:特殊类型的SPM [扫描探针显微术]或其设备;其基本组成
G01Q70/00:SPM探针的一般方面,其制造或有关的使用仪器,它们不专门适用于包括在大组G01Q 60/00中的单独的SPM技术
G01Q80/00:不同于SPM的扫描探针技术的应用
G01Q90/00:其他类目不包括的扫描探针技术或设备
G01Q10/00小组
G01Q10/02:·粗扫描或定位
G01Q10/04:·细扫描或定位
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4
个相关信息
一种原位测试样品台
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实用新型
有效专利
检测设备
申请日:
2021-02-10
当前状态:
授权
国际分类号:
G01Q30/20
发明人:
梁立军,李鑫
申请人:
绍兴微宇科技有限公司
、
杭州电子科技大学上虞科学与工程研究院有限公司
基于相场模型利用激光控制硅基表面形态的研究方法
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发明专利
有效专利
纳米制造
申请日:
2017-01-10
当前状态:
授权
国际分类号:
G01Q60/24
发明人:
张俐楠,程从秀,吴立群,郑伟,王洪成
申请人:
杭州电子科技大学
一种表面纳米结构磁性测量方法
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发明专利
有效专利
申请日:
2018-04-24
当前状态:
授权
国际分类号:
G01N21/21
、
G01Q60/24
发明人:
张旺俏,范晓雯,张向平
申请人:
金华职业技术学院
原位观察铁电材料在电场作用前后电畴结构的装置及方法
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发明专利
有效专利
申请日:
2015-05-22
当前状态:
授权
国际分类号:
G01Q60/00
发明人:
高荣礼,符春林,蔡苇,邓小玲,陈刚
申请人:
重庆科技学院
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