发明内容
[0004] 本发明的目的就是有效简化传统差分放大电路的复杂程度，提供一种纱线瑕疵检测信号差分放大电路。
[0005] 本发明一种纱线瑕疵检测信号差分放大电路包括单片机U12、可调增益差分电路和二阶低通滤波器；单片机U12的型号为STM32F051；
[0006] 可调增益差分电路包括第一运算放大器U14B、数控电位器U13、第一匹配电阻R69、第二匹配电阻R67、第三匹配电阻R68、旁路电容C47和第一滤波电阻R70和第一滤波电容C49。
[0007] 所述的数控电位器U13的SCLK、DIN、 脚依次和单片机U12的PB13、PB15、PB12脚相连。单片机U12的PA4输出脚与电阻R69一端和数控电位器U13的L脚均相连，第二匹配电阻R67一端接纱线电压，第二匹配电阻R67另一端与数控电位器U13的H端相连，数控电位器U13的W端与第一运算放大器U14B的同相输入端相连，第一匹配电阻R69另一端与第一运算放大器U14B的反相输入端、第三匹配电阻R68连接。第三匹配电阻R68的另一端与第一运算放大器U14B的输出端、第一滤波电阻R70连接；第一滤波电阻R70的另一端与第一滤波电容C49一端连接，第一滤波电容C49的另一端接地；第一运算放大器U14B的正电源端与旁路电容C47的一端连接并接电源VCC，负电源端接地，旁路电容C47的另一端接地；
[0008] 二阶低通滤波器电路包括第二运算放大器U14A、第二滤波电阻R73、第三滤波电阻R71、第四滤波电阻R72、第二滤波电容C48和第三滤波电容C50。第三滤波电阻R71的一端与第四滤波电阻R72一端、第三滤波电容C50的一端相连；第三滤波电阻R71的另一端与可调增益差分电路中的第一滤波电阻R70另一端连接，第四滤波电阻R72另一端与第二运算放大器U14A的同相输入端、第二滤波电容C48的一端连接，第二滤波电容C48另一端接地。第三滤波电容C50的另一端和第二运算放大器U14A的输出端、第二运算放大器U14A的反向输入端、第二滤波电阻R73的一端连接，第二滤波电阻R73的另一端与单片机U12的ADC脚连接；第二运算放大器U14A的正电源端接点源VCC，负电源端接地。
[0009] 本发明通过MCU控制，当标准纱线电压输入时，改变电控数位器U13的电阻，使增益为1，输出结果即为标准纱线电压。通过MCU的ADC采样后，DAC输出标准纱线电压，此根据纱线粗细和类型调整数控电位器改变差分放大增益。此时当纱线发生变化的时候，其与标准纱线电压的差值ΔU就被放大增益相应的倍数。本发明简化了一般差分放大电路的复杂性，能稳定有效的进行差分放大。具有调节过程智能化和精度高，长时间工作稳定性高，电路结构简单，电路维护简单，成本低廉，温度湿度对电路的影响小。
