首页 > 专利 > 上海斐讯数据通信技术有限公司 > 电子设备接口的检测方法、装置专利详情

电子设备接口的检测方法、装置   0    0

有效专利 查看PDF
专利申请流程有哪些步骤?
专利申请流程图
申请
申请号:指国家知识产权局受理一件专利申请时给予该专利申请的一个标示号码。唯一性原则。
申请日:提出专利申请之日。
2015-11-12
申请公布
申请公布指发明专利申请经初步审查合格后,自申请日(或优先权日)起18个月期满时的公布或根据申请人的请求提前进行的公布。
申请公布号:专利申请过程中,在尚未取得专利授权之前,国家专利局《专利公报》公开专利时的编号。
申请公布日:申请公开的日期,即在专利公报上予以公开的日期。
2016-04-27
授权
授权指对发明专利申请经实质审查没有发现驳回理由,授予发明专利权;或对实用新型或外观设计专利申请经初步审查没有发现驳回理由,授予实用新型专利权或外观设计专利权。
2018-02-06
预估到期
发明专利权的期限为二十年,实用新型专利权期限为十年,外观设计专利权期限为十五年,均自申请日起计算。专利届满后法律终止保护。
2035-11-12
基本信息
有效性 有效专利 专利类型 发明专利
申请号 CN201510770319.7 申请日 2015-11-12
公开/公告号 CN105446856B 公开/公告日 2018-02-06
授权日 2018-02-06 预估到期日 2035-11-12
申请年 2015年 公开/公告年 2018年
缴费截止日 2021-12-13
分类号 G06F11/30 主分类号 G06F11/30
是否联合申请 独立申请 文献类型号 B
独权数量 1 从权数量 17
权利要求数量 18 非专利引证数量 0
引用专利数量 3 被引证专利数量 0
非专利引证
引用专利 CN103024219A、CN101296250A、US2009/0193490A1 被引证专利
专利权维持 2 专利申请国编码 CN
专利事件 事务标签 公开、实质审查、授权
申请人信息
申请人 第一申请人
专利权人 上海斐讯数据通信技术有限公司 当前专利权人 上海斐讯数据通信技术有限公司
发明人 李茂源 第一发明人 李茂源
地址 上海市松江区思贤路3666号 邮编 201616
申请人数量 1 发明人数量 1
申请人所在省 上海市 申请人所在市 上海市松江区
代理人信息
代理机构
专利代理机构是经省专利管理局审核,国家知识产权局批准设立,可以接受委托人的委托,在委托权限范围内以委托人的名义办理专利申请或其他专利事务的服务机构。
上海硕力知识产权代理事务所 代理人
专利代理师是代理他人进行专利申请和办理其他专利事务,取得一定资格的人。
郭桂峰
摘要
本发明公开一种电子设备接口的检测方法,包括:检测电子设备接口接入的外部存储设备;通过热插拔机制将检测到的外部存储设备绑定到预设绑定目录;将所述预设绑定目录和设备路径保存到指定文件中;从所述指定文件中读取所述预设绑定目录和设备路径以确认所述外部存储设备是否存在;以及当所述外部存储设备确认存在时,通过检测命令检测所述电子设备接口的写入速度和读取速度。相应地,本发明还公开一种电子设备接口的检测装置及电子设备。本发明采用的技术方案,实现了电子设备接口写入速度和读取速度的测试,提高了电子设备接口测试的效率和测试的全面性。
  • 摘要附图
    电子设备接口的检测方法、装置
  • 说明书附图:图1
    电子设备接口的检测方法、装置
  • 说明书附图:图2
    电子设备接口的检测方法、装置
  • 说明书附图:图3
    电子设备接口的检测方法、装置
  • 说明书附图:图4
    电子设备接口的检测方法、装置
  • 说明书附图:图5
    电子设备接口的检测方法、装置
  • 说明书附图:图6
    电子设备接口的检测方法、装置
  • 说明书附图:图7
    电子设备接口的检测方法、装置
  • 说明书附图:图8
    电子设备接口的检测方法、装置
法律状态
序号 法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
1 2020-12-15 专利权的转移 登记生效日: 2020.12.03 专利权人由上海斐讯数据通信技术有限公司变更为湖州爱迪电气有限公司 地址由201616 上海市松江区思贤路3666号变更为313023 浙江省湖州市吴兴区埭溪镇上强路
2 2018-02-06 授权
3 2016-04-27 实质审查的生效 IPC(主分类): G06F 11/30 专利申请号: 201510770319.7 申请日: 2015.11.12
4 2016-03-30 公开
权利要求
权利要求书是申请文件最核心的部分,是申请人向国家申请保护他的发明创造及划定保护范围的文件。
1.一种电子设备接口的检测方法,其特征在于,包括:
检测电子设备接口接入的外部存储设备;
通过热插拔机制将检测到的外部存储设备绑定到预设绑定目录;
将所述预设绑定目录和设备路径保存到指定文件中;
从所述指定文件中读取所述预设绑定目录和设备路径以确认所述外部存储设备是否存在;以及
当所述外部存储设备确认存在时,通过检测命令检测所述电子设备接口的写入速度和读取速度;其中,在通过检测命令检测所述电子设备接口的写入速度中包括:
通过dd命令向所述预设绑定目录写入预设文件大小的空字符流文件并记录起止时间;
根据所述空字符流文件的预设文件大小和起止时间计算写入速度。

2.如权利要求1所述的电子设备接口的检测方法,其特征在于,其中所述通过热插拔机制将检测到的外部存储设备绑定到预设绑定目录步骤包括:
调用热插拔事件处理函数,并根据设备名和环境变量读取所述外部存储设备的设备节点和分区文件的系统格式;以及
根据所述分区文件的系统格式选择命令绑定所述设备节点到预设绑定目录。

3.如权利要求2所述的电子设备接口的检测方法,其特征在于,其中所述根据所述分区文件的系统格式选择命令绑定所述设备节点到预设绑定目录步骤还包括:
判断所述分区文件的系统格式是否为NTFS文件系统;
当所述分区文件的系统格式判断为NTFS文件系统时,选择ntfs-3g命令绑定所述设备节点到预设绑定目录;以及
当所述分区文件的系统格式判断并非为NTFS文件系统时,选择mount命令绑定所述设备节点到预设绑定目录。

4.如权利要求1所述的电子设备接口的检测方法,其特征在于,其中所述当所述外部存储设备确认存在时通过检测命令检测所述电子设备的接口的写入速度和读取速度步骤包括:
通过检测命令检测所述电子设备的接口的写入速度;
判断检测到的写入速度是否达标;以及
当所述写入速度达标时,通过检测命令检测所述电子设备的接口的读取速度;以及当所述写入速度未达标时,输出所述写入速度以及相关测试失败信息。

5.如权利要求4所述的电子设备接口的检测方法,其特征在于,其中所述通过检测命令检测所述电子设备的接口的读取速度步骤包括:
通过dd命令在所述预设绑定目录中读取预设文件大小的数据文件并记录起止时间;以及
根据所述数据文件的预设文件大小和起止时间计算读取速度。

6.如权利要求4所述的电子设备接口的检测方法,其特征在于,其中在所述当所述写入速度达标时通过检测命令检测所述电子设备的接口的读取速度步骤之后还包括:
判断检测到的读取速度是否达标;以及
当所述读取速度达标时,输出所述电子设备接口的写入速度、读取速度和相关测试成功信息。

7.如权利要求6所述的电子设备接口的检测方法,其特征在于,其中当所述读取速度未达标时输出所述写入速度、读取速度以及相关测试失败信息。

8.如权利要求1所述的电子设备接口的检测方法,其特征在于,其中在所述检测电子设备接口接入的外部存储设备之前还包括:在所述电子设备的内核注册外部存储设备的热插拔事件。

9.如权利要求1所述的电子设备接口的检测方法,其特征在于,其中在所述通过检测命令检测所述电子设备的接口的写入速度和读取速度步骤之后还包括:输出所述电子设备接口的写入速度、读取速度和相关测试成功信息。

10.一种电子设备接口的检测装置,其特征在于,包括:
检测单元,用于检测电子设备接口接入的外部存储设备;
绑定单元,用于通过热插拔机制将所述检测单元检测到的外部存储设备绑定到预设绑定目录;
保存单元,用于将所述预设绑定目录和设备路径保存到指定文件中;
确认单元,用于从所述指定文件中读取所述预设绑定目录和设备路径以确认所述外部存储设备是否存在;以及
读写速度检测单元,用于当所述确认单元确认所述外部存储设备确认存在时,通过检测命令检测所述电子设备接口的写入速度和读取速度;其中,在通过检测命令检测所述电子设备接口的写入速度中包括:
通过dd命令向所述预设绑定目录写入预设文件大小的空字符流文件并记录起止时间;
根据所述空字符流文件的预设文件大小和起止时间计算写入速度。

11.如权利要求10所述的电子设备接口的检测装置,其特征在于,其中所述绑定单元包括:
热插拔处理单元,用于调用热插拔事件处理函数,并根据设备名和环境变量读取所述外部存储设备的设备节点和分区文件的系统格式;以及
绑定处理单元,用于根据所述热插拔处理单元读取的所述分区文件的系统格式选择命令绑定所述设备节点到预设绑定目录。

12.如权利要求11所述的电子设备接口的检测装置,其特征在于,其中所述绑定处理单元包括:
分区格式判断单元,用于判断所述分区文件的系统格式是否为NTFS文件系统;
选择绑定单元,用于当所述分区格式判断单元判断所述分区文件的系统格式为NTFS文件系统时,选择ntfs-3g命令绑定所述设备节点到预设绑定目录,以及当所述分区格式判断单元判断所述分区文件的系统格式并非为NTFS文件系统时,选择mount命令绑定所述设备节点到预设绑定目录。

13.如权利要求10所述的电子设备接口的检测装置,其特征在于,其中所述读写速度检测单元包括:
写入速度检测单元,用于通过检测命令检测所述电子设备的接口的写入速度;
判断单元,用于判断所述写入速度检测单元检测到的写入速度是否达标;
读取速度检测单元,用于当所述判断单元判断所述写入速度达标时通过检测命令检测所述电子设备的接口的读取速度;以及
输出单元,用于当所述判断单元判断写入速度未达标时输出所述写入速度以及相关测试失败信息。

14.如权利要求13所述的电子设备接口的检测装置,其特征在于,其中所述读取速度检测单元包括:
读取单元,用于通过dd命令在所述预设绑定目录中读取预设文件大小的数据文件并记录起止时间;以及
读取速度计算单元,用于根据所述读取单元读取的所述数据文件的预设文件大小和起止时间计算读取速度。

15.如权利要求13所述的电子设备接口的检测装置,其特征在于,所述判断单元还用于判断所述读取速度检测单元检测到的读取速度是否达标,当所述判断单元判断所述读取速度达标时,所述输出单元还用于输出所述电子设备接口的写入速度、读取速度和相关测试成功信息。

16.如权利要求15所述的电子设备接口的检测装置,其特征在于,其中当所述判断单元判断所述读取速度未达标时,所述输出单元还用于输出所述写入速度、读取速度以及相关测试失败信息。

17.如权利要求10所述的电子设备接口的检测装置,其特征在于,还包括热插拔事件注册单元,用于在所述电子设备的内核注册外部存储设备的热插拔事件。

18.如权利要求10所述的电子设备接口的检测装置,其特征在于,还包括输出单元,用于输出所述电子设备接口的写入速度、读取速度和相关测试成功信息。
说明书

技术领域

[0001] 本发明涉及电子控制领域,尤其涉及一种电子设备接口的检测方法、装置。

背景技术

[0002] 电子设备的外部存储接口,是实现电子设备拓展存储和对外部存储设备数据交换的重要接口。现有针对电子设备外部存储接口的测试,通常在接入外部存储设备时手动输入测试命令对外部存储设备进行测试,且仅限于能否正常读写功能的测试而无法测试电子设备接口的写入速度和读取速度,导致测试效率不高且测试功能有限。

发明内容

[0003] 鉴于此,本发明提供一种电子设备接口的检测方法、装置及设备,解决现有针对电子设备的外部存储接口的测试效率不高且测试功能有限的技术问题。
[0004] 根据本发明的实施例,提供一种电子设备接口的检测方法,包括:检测电子设备接口接入的外部存储设备;通过热插拔机制将检测到的外部存储设备绑定到预设绑定目录;将所述预设绑定目录和设备路径保存到指定文件中;从所述指定文件中读取所述预设绑定目录和设备路径以确认所述外部存储设备是否存在;以及当所述外部存储设备确认存在时,通过检测命令检测所述电子设备接口的写入速度和读取速度。
[0005] 优选的,所述通过热插拔机制将检测到的外部存储设备绑定到预设绑定目录步骤包括:调用热插拔事件处理函数,并根据设备名和环境变量读取所述外部存储设备的设备节点和分区文件的系统格式;以及根据所述分区文件的系统格式选择命令绑定所述设备节点到预设绑定目录。
[0006] 优选的,所述根据所述分区文件的系统格式选择命令绑定所述设备节点到预设绑定目录步骤还包括:判断所述分区文件的系统格式是否为NTFS文件系统;当所述分区文件的系统格式判断为NTFS文件系统时,选择ntfs-3g命令绑定所述设备节点到预设绑定目录;以及当所述分区文件的系统格式判断并非为NTFS文件系统时,选择mount命令绑定所述设备节点到预设绑定目录。
[0007] 优选的,所述当所述外部存储设备确认存在时通过检测命令检测所述电子设备的接口的写入速度和读取速度步骤包括:通过检测命令检测所述电子设备的接口的写入速度;判断检测到的写入速度是否达标;以及当所述写入速度达标时,通过检测命令检测所述电子设备的接口的读取速度;以及当所述写入速度未达标时,输出所述写入速度以及相关测试失败信息。
[0008] 优选的,所述通过检测命令检测所述电子设备的接口的写入速度步骤包括:通过dd命令向所述预设绑定目录写入预设文件大小的空字符流文件并记录起止时间;以及根据所述空字符流文件的预设文件大小和起止时间计算写入速度。
[0009] 优选的,所述通过检测命令检测所述电子设备的接口的读取速度步骤包括:通过dd命令在所述预设绑定目录中读取预设文件大小的数据文件并记录起止时间;以及根据所述数据文件的预设文件大小和起止时间计算读取速度。
[0010] 优选的,在所述当所述写入速度达标时通过检测命令检测所述电子设备的接口的读取速度步骤之后还包括:判断检测到的读取速度是否达标;以及当所述读取速度达标时,输出所述电子设备接口的写入速度、读取速度和相关测试成功信息。
[0011] 优选的,当所述读取速度未达标时输出所述写入速度、读取速度以及相关测试失败信息。
[0012] 优选的,在所述检测电子设备接口接入的外部存储设备之前还包括:在所述电子设备的内核注册外部存储设备的热插拔事件。
[0013] 优选的,在所述通过检测命令检测所述电子设备的接口的写入速度和读取速度步骤之后还包括:输出所述电子设备接口的写入速度、读取速度和相关测试成功信息。
[0014] 根据本发明的另一实施例,提供一种电子设备接口的检测装置,包括:检测单元,用于检测电子设备接口接入的外部存储设备;绑定单元,用于通过热插拔机制将所述检测单元检测到的外部存储设备绑定到预设绑定目录;保存单元,用于将所述预设绑定目录和设备路径保存到指定文件中;确认单元,用于从所述指定文件中读取所述预设绑定目录和设备路径以确认所述外部存储设备是否存在;以及读写速度检测单元,用于当所述确认单元确认所述外部存储设备确认存在时,通过检测命令检测所述电子设备接口的写入速度和读取速度。
[0015] 优选的,所述绑定单元包括:热插拔处理单元,用于调用热插拔事件处理函数,并根据设备名和环境变量读取所述外部存储设备的设备节点和分区文件的系统格式;以及绑定处理单元,用于根据所述热插拔处理单元读取的所述分区文件的系统格式选择命令绑定所述设备节点到预设绑定目录。
[0016] 优选的,所述绑定处理单元包括:分区格式判断单元,用于判断所述分区文件的系统格式是否为NTFS文件系统;选择绑定单元,用于当所述分区格式判断单元判断所述分区文件的系统格式为NTFS文件系统时,选择ntfs-3g命令绑定所述设备节点到预设绑定目录,以及当所述分区格式判断单元判断所述分区文件的系统格式并非为NTFS文件系统时,选择mount命令绑定所述设备节点到预设绑定目录。
[0017] 优选的,所述读写速度检测单元包括:写入速度检测单元,用于通过检测命令检测所述电子设备的接口的写入速度;判断单元,用于判断所述写入速度检测单元检测到的写入速度是否达标;读取速度检测单元,用于当所述判断单元判断所述写入速度达标时通过检测命令检测所述电子设备的接口的读取速度;以及输出单元,用于当所述判断单元判断写入速度未达标时输出所述写入速度以及相关测试失败信息。
[0018] 优选的,所述写入速度检测单元包括:写入单元,用于通过dd命令向所述预设绑定目录写入预设文件大小的空字符流文件并记录起止时间;以及写入速度计算单元,用于根据所述写入单元写入的所述空字符流文件的预设文件大小和起止时间计算写入速度。
[0019] 优选的,所述读取速度检测单元包括:读取单元,用于通过dd命令在所述预设绑定目录中读取预设文件大小的数据文件并记录起止时间;以及读取速度计算单元,用于根据所述读取单元读取的所述数据文件的预设文件大小和起止时间计算读取速度。
[0020] 优选的,所述判断单元还用于判断所述读取速度检测单元检测到的读取速度是否达标,当所述判断单元判断所述读取速度达标时,所述输出单元还用于输出所述电子设备接口的写入速度、读取速度和相关测试成功信息。
[0021] 优选的,当所述判断单元判断所述读取速度未达标时,所述输出单元还用于输出所述写入速度、读取速度以及相关测试失败信息。
[0022] 优选的,所述电子设备接口的检测装置还包括热插拔事件注册单元,用于在所述电子设备的内核注册外部存储设备的热插拔事件。
[0023] 优选的,所述电子设备接口的检测装置还包括输出单元,用于输出所述电子设备接口的写入速度、读取速度和相关测试成功信息。
[0024] 根据本发明又一实施例,还提供一种电子设备,所述电子设备包括上述的电子设备接口的检测装置。
[0025] 本发明提供的电子设备接口的检测方法、装置及设备,通过热插拔机制绑定接入的外部存储设备,并通过测试指令检测所述电子设备的接口的写入速度和读取速度,与现有针对电子设备接口测试时需要手动输入测试命令和有限的测试功能相比,实现了电子设备接口的写入速度和读取速度的测试,提高了电子设备接口测试的效率和测试的全面性。

实施方案

[0035] 下面结合附图和具体实施方式对本发明的技术方案作进一步更详细的描述。显然,所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都应属于本发明保护的范围。
[0036] 在本发明的描述中,需要理解的是,术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本发明的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言,可以结合具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。此外,在本发明的描述中,除非另有说明,“多个”的含义是两个或两个以上。
[0037] 流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为,表示包括一个或更多个用于实现特定逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分,并且本发明的优选实施方式的范围包括另外的实现,其中可以不按所示出或讨论的顺序,包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序,来执行功能,这应被本发明的实施例所属技术领域的技术人员所理解。
[0038] 图1为本发明第一实施例中电子设备接口的检测方法的流程示意图。如图所示,本实施例提供的电子设备接口的检测方法,包括:
[0039] 步骤S101:检测电子设备接口接入的外部存储设备。
[0040] 其中,所述电子设备接口可以为任意可接入外部存储设备的物理接口,比如USB接口、SD卡接口、TF卡接口等,用于实现电子设备的拓展存储以及与外部存储设备的电子数据传输。预先在所述电子设备内核中注册外部存储设备的热插拔事件,比如SD卡或U盘的热插拔事件,这样可以在不关闭所述电子设备的情况下通过接口接入和读写外部存储设备。
[0041] 步骤S102:通过热插拔机制将检测到的外部存储设备绑定到预设绑定目录。
[0042] 具体的,图2为本发明第一实施例中电子设备接口的检测方法的绑定外部存储设备的流程示意图。如图所示,步骤S102中所述电子设备接口的检测方法的绑定外部存储设备的方法,包括:
[0043] 步骤S201:调用热插拔事件处理函数,并根据设备名和环境变量读取所述外部存储设备的设备节点和分区文件的系统格式。
[0044] 其中,当电子设备检测到有外部存储设备接入时,Lunix系统内核调用用户层预先注册的外部存储设备对应的热插拔事件的处理函数udevd,并传递外部存储设备的设备名和环境变量,udevd通过libsysfs读取sys系统文件,这样读取所述外部存储设备的分区表和设备节点,并获取每一个分区的文件系统格式。
[0045] 步骤S202:判断所述分区文件的系统格式是否为NTFS文件系统。
[0046] 步骤S203:当所述分区文件的系统格式判断为NTFS文件系统时,选择ntfs-3g命令绑定所述设备节点到预设绑定目录。
[0047] 其中,所述预设绑定目录为内核自动创建的与分区名相同的目录,根据所述分区文件的系统格式选择命令绑定所述设备节点到预设绑定目录。
[0048] 步骤S204:当所述分区文件的系统格式判断并非为NTFS文件系统时,选择mount命令绑定所述设备节点到预设绑定目录。
[0049] 步骤S103:将所述预设绑定目录和设备路径保存到指定文件中。
[0050] 这样通过热插拔机制将检测到的外部存储设备绑定到预设绑定目录,电子设备可以通过读取所述指定文件中的所述预设绑定目录和设备路径,对接入的所述外部存储设备进行后续的读取和写入测试。
[0051] 步骤S104:从所述指定文件中读取所述预设绑定目录和设备路径以确认所述外部存储设备是否存在。
[0052] 步骤S105:当所述外部存储设备确认存在时,通过检测命令检测所述电子设备接口的写入速度和读取速度。
[0053] 具体的,图3为本发明第一实施例中电子设备接口的检测方法的检测电子设备接口的写入速度和读取速度的流程示意图。如图所示,所述检测电子设备接口的写入速度和读取速度的方法,具体包括:
[0054] 步骤S301:从所述指定文件中读取所述预设绑定目录和设备路径。
[0055] 本实施例在进行电子设备接口测试时,可将电子设备通过串口连接计算机,以通过串口查看或打印相关的测试信息,比如测试设备名称编号、测试时间、写入速度、读取速度和测试成功失败信息等。
[0056] 步骤S302:确认所述外部存储设备是否存在。
[0057] 其中,当步骤S301中能读取到所述预设绑定目录和设备路径时,确定所述外部存储设备存在,继续后续的写入速度和读取速度测试;当不能读取到所述预设绑定目录和设备路径时,确定所述外部存储设备不存在,执行步骤S310直接输出检测设备不存在的测试失败信息,通过计算机串口输出或打印相关测试失败的信息。
[0058] 步骤S303:通过dd命令向所述预设绑定目录写入预设文件大小的空字符流文件并记录起止时间。
[0059] 步骤S304:根据所述空字符流文件的预设文件大小和起止时间计算写入速度。
[0060] 这样,在步骤S303和步骤S304中,根据dd命令拷贝写入文件数据的大小和时间,很容易计算得到所述电子设备的接口的写入速度。
[0061] 步骤S305:判断检测到的写入速度是否达标。
[0062] 其中,针对不同类型的电子设备接口,写入速度的标准也不尽相同。在本实施例中,当写入速度达标时则继续后续的读取速度的测试,当写入速度不达标时执行步骤S310直接输出写入速度和测试失败信息,通过计算机串口输出或打印相关写入速度和测试失败的信息。
[0063] 步骤S306:通过dd命令在所述预设绑定目录中读取预设文件大小的数据文件并记录起止时间。
[0064] 步骤S307:根据所述数据文件的预设文件大小和起止时间计算读取速度。
[0065] 这样,在步骤S306和步骤S307中,根据dd命令拷贝读取文件数据的大小和时间,很容易计算得到所述电子设备的接口的读取速度。
[0066] 步骤S308:判断检测到的读取速度是否达标。
[0067] 其中,针对不同类型的电子设备接口,读取速度的标准也不尽相同。在本实施例中,当读取速度不达标时执行步骤S310直接输出写入速度、读取速度和测试失败信息,通过计算机串口输出或打印相关写入速度、读取速度和测试失败的信息。
[0068] 步骤S309:当所述读取速度达标时,输出所述电子设备接口的写入速度、读取速度和相关测试成功信息。
[0069] 图4为本发明第二实施例的电子设备接口的检测装置的结构示意图,如图所示,在上述方法实施例的基础上,本实施例提供的电子设备接口的检测装置10,包括检测单元101、绑定单元102、保存单元103、确认单元104和读写速度检测单元105。
[0070] 所述检测单元101,用于检测电子设备接口接入的外部存储设备。其中,所述电子设备接口可以为任意可接入外部存储设备的物理接口,比如USB接口、SD卡接口、TF卡接口等,用于实现电子设备的拓展存储以及与外部存储设备的电子数据传输。在本实施例中,预先通过热插拔事件注册单元在所述电子设备内核中注册外部存储设备的热插拔事件,比如SD卡或U盘的热插拔事件,这样可以在不关闭所述电子设备的情况下通过接口接入和读写外部存储设备。
[0071] 所述绑定单元102,用于通过热插拔机制将所述检测单元101检测到的外部存储设备绑定到预设绑定目录。图5为本发明实施例的电子设备接口的检测装置的绑定单元102的结构示意图。如图所示,所述绑定单元102包括热插拔处理单元1021和绑定处理单元1022。
[0072] 所述热插拔处理单元1021,用于调用热插拔事件处理函数,并根据设备名和环境变量读取所述外部存储设备的设备节点和分区文件的系统格式。具体的,当电子设备的检测单元101检测到有外部存储设备接入时,Lunix系统内核的所述热插拔处理单元1021调用用户层预先注册的外部存储设备对应的热插拔事件的处理函数udevd,并传递外部存储设备的设备名和环境变量,udevd通过libsysfs读取sys系统文件,这样读取所述外部存储设备的分区表和设备节点,并获取每一个分区的文件系统格式。
[0073] 所述绑定处理单元1022包括分区格式判断单元10221和选择绑定单元10222,用于根据所述热插拔处理单元1021读取的所述分区文件的系统格式选择命令绑定所述设备节点到预设绑定目录。所述分区格式判断单元10221,用于判断所述分区文件的系统格式是否为NTFS文件系统。所述选择绑定单元10222,用于当所述分区格式判断单元10221判断所述分区文件的系统格式为NTFS文件系统时,选择ntfs-3g命令绑定所述设备节点到预设绑定目录,以及当所述分区格式判断单元10221判断所述分区文件的系统格式并非为NTFS文件系统时,选择mount命令绑定所述设备节点到预设绑定目录。其中,所述预设绑定目录为内核自动创建的与分区名相同的目录,根据所述分区文件的系统格式选择命令绑定所述设备节点到预设绑定目录。
[0074] 所述保存单元103,用于将所述预设绑定目录和设备路径保存到指定文件中。这样所述绑定单元102通过热插拔机制将检测到的外部存储设备绑定到预设绑定目录,电子设备可以通过读取所述指定文件中的所述预设绑定目录和设备路径,对接入的所述外部存储设备通过所述读写速度检测单元105进行后续的读取和写入测试。
[0075] 所述确认单元104,用于从所述指定文件中读取所述预设绑定目录和设备路径以确认所述外部存储设备是否存在。本实施例在进行电子设备接口测试时,可将电子设备通过串口连接计算机,以通过串口查看或打印相关的测试信息,比如测试设备名称编号、测试时间、写入速度、读取速度和测试成功失败信息等。所述确认单元104读取到所述预设绑定目录和设备路径时,确定所述外部存储设备存在,可后续通过读写速度测试单元105进行写入速度和读取速度测试;当所述确认单元104不能读取到所述预设绑定目录和设备路径时,确定所述外部存储设备不存在,则直接输出检测设备不存在的测试失败信息,通过计算机串口输出或打印相关测试失败的信息。
[0076] 所述读写速度检测单元105,用于当所述确认单元104确认所述外部存储设备确认存在时,通过检测命令检测所述电子设备接口的写入速度和读取速度。图6为本发明第二实施例的电子设备接口的检测装置的读写速度检测单元的结构示意图,如图所示,所述读写速度检测单元105包括写入速度检测单元1051、判断单元1052、读取速度检测单元1053和输出单元1054。
[0077] 其中,所述写入速度检测单元1051,用于通过检测命令检测所述电子设备的接口的写入速度。图7为本发明实施例的电子设备接口的检测装置的写入速度检测单元的结构示意图。如图所示,所述写入速度检测单元1051进一步包括写入单元10511和写入速度计算单元10512。
[0078] 所述写入单元10511,用于通过dd命令向所述预设绑定目录写入预设文件大小的空字符流文件并记录起止时间。所述写入速度计算单元10512,用于根据所述写入单元10511写入的所述空字符流文件的预设文件大小和起止时间计算写入速度。这样,所述写入速度检测单元1051根据dd命令拷贝写入文件数据的大小和时间,很容易计算得到所述电子设备的接口的写入速度。
[0079] 所述判断单元1052,用于判断所述写入速度检测单元1051检测到的写入速度是否达标。其中,针对不同类型的电子设备接口,写入速度的标准也不尽相同。在本实施例中,当写入速度达标时则继续后续通过所述读取速度检测单元1053进行读取速度的测试,当所述判断单元1052判断写入速度不达标时,直接输出写入速度和测试失败信息,通过计算机串口输出或打印相关写入速度和测试失败的信息。
[0080] 所述读取速度检测单元1053,用于当所述判断单元1052判断所述写入速度达标时通过检测命令检测所述电子设备的接口的读取速度。图8为本发明第二实施例的电子设备接口的检测装置的读取速度检测单元的结构示意图。如图所示,所述读取速度检测单元1053包括读取单元10531和读取速度计算单元10532。
[0081] 所述读取单元10531,用于通过dd命令在所述预设绑定目录中读取预设文件大小的数据文件并记录起止时间。所述读取速度计算单元10532,用于根据所述读取单元10531读取的所述数据文件的预设文件大小和起止时间计算读取速度。这样,所述读取速度检测单元1053根据dd命令拷贝读取文件数据的大小和时间,很容易计算得到所述电子设备的接口的读取速度。
[0082] 优选的,所述判断单元1052还可用于判断所述读取速度检测单元1053检测到的读取速度是否达标。当所述判断单元1052判断所述读取速度达标时,所述输出单元1054还可用于输出所述电子设备接口的写入速度、读取速度和相关测试成功信息;当所述判断单元1052判断所述读取速度未达标时,所述输出单元1054还用于输出所述写入速度、读取速度以及相关测试失败信息。当所述判断单元1052判断写入速度未达标时,所述输出单元1054输出所述写入速度以及相关测试失败信息。当所述确认单元104不能读取到所述预设绑定目录和设备路径时,所述输出单元1054直接输出检测设备不存在的测试失败信息。
[0083] 基于上述实施例,本发明还提供一种电子设备,所述电子设备包括上述的电子设备接口的检测装置。
[0084] 综上所述,本发明提供的电子设备接口的检测方法、装置及设备,通过热插拔机制绑定接入的外部存储设备,并通过测试指令检测所述电子设备的接口的写入速度和读取速度,与现有针对电子设备接口测试时需要手动输入测试命令和有限的测试功能相比,实现了电子设备接口的写入速度和读取速度的测试,提高了电子设备接口测试的效率和测试的全面性。
[0085] 应当理解,本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中,多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如,如果用硬件来实现,和在另一实施方式中一样,可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现:具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路,具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路,可编程门阵列(PGA),现场可编程门阵列(FPGA)等。
[0086] 在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
[0087] 尽管已经示出和描述了本发明的实施例,本领域的普通技术人员可以理解:在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本发明的范围由权利要求及其等同物限定。

附图说明

[0026] 为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0027] 图1为本发明第一实施例中电子设备接口的检测方法的流程示意图。
[0028] 图2为本发明第一实施例中电子设备接口的检测方法的绑定外部存储设备的流程示意图。
[0029] 图3为本发明第一实施例中电子设备接口的检测方法的检测电子设备接口的写入速度和读取速度的流程示意图。
[0030] 图4为本发明第二实施例的电子设备接口的检测装置的结构示意图。
[0031] 图5为本发明第二实施例的电子设备接口的检测装置的绑定单元的结构示意图。
[0032] 图6为本发明第二实施例的电子设备接口的检测装置的读写速度检测单元的结构示意图。
[0033] 图7为本发明第二实施例的电子设备接口的检测装置的写入速度检测单元的结构示意图。
[0034] 图8为本发明第二实施例的电子设备接口的检测装置的读取速度检测单元的结构示意图。
版权所有:盲专网 ©2023 zlpt.xyz  蜀ICP备2023003576号