[0028] 下面对本发明的实施例作详细说明，本实施例在以本发明技术方案为前提下进行实施，给出了详细的实施方式和具体的操作过程，但本发明的保护范围不限于下述的实施例。
[0029] 本发明提供了一种二分区间的数据压缩方法，将若干个测试向量甚至整个测试集映射到区间(0，1)，再通过多次二分区间的方法找到该位置，存储该二分区间的规律即可存储该若干个测试向量甚至整个测试集。
[0030] 具体步骤为：
[0031] 步骤1：统计原始测试数据的游程长度Y1、Y2、……，Yn，其中，Yn表示为第n个测试向量的游程长度，n为正整数，将该测试向量按0类型游程统计游程长度，直到无关位结束，若无关位与前一游程可以组成同一游程，舍弃最后一游程长度，只记前若干游程长度；否则记前所有游程长度。
[0032] 若无关位与前一游程可以组成同一游程，舍弃最后一游程长度，只记前若干游程长度；否则记前所有游程长度。以0000100110XXX为例，前三个游程是确定的，是4、2、0，后面一个游程可以3，即最后4位是0001；如对于0000100101XXX，前3个游程分别是4、2和1，后面的无关位不能直接与前一游程拼成同一游程，此时只记前3个游程。此过程主要是将无关位尽可能的往前一游程填充。
[0033] 不失一般性，设原始测试数据为：00000001000100001000100000001000001，则游程长度分别为7、3、4、3、7和5；
[0034] 步骤2：转化成小数，默认小数的整数部分为0，步骤1所统计的游程长度依次组成小数部分，转化的小数为0.Y1Y2……Yn，0.Y1Y2……Yn属于区间(0，1)，如步骤1所统计的游程长度依次为7、3、4、3、7和5，转化后的小数为0.734375，记为t，有t∈(0,1)；t是代表了转化后的小数；
[0035] 步骤3：初始化区间和原始编码，记t0＝0，t1＝1，原始编码为空；t0是代表了初始化区间转化后的小数，t1代表了原始编码转化后的小数；
[0036] 步骤4：二分区间，令 t′代表了t0、t1之和的一半，比较t′与t大小并编码，规则为：若t≤t′，编码增加1位数据0，令t1＝t′；若t＞t′，编码增加1位数据1，令t0＝t′，重复执行该步骤直到t＝t′，例如，上述步骤2中小数t＝0.734375，步骤3中初始时t0＝0，t1＝1，原始编码为空，首先 此时t＞t′，编码在原始编码为空的基础上增加
1位数据1，即此时编码为1；重复t′与t并编码有， t≤t′，此时编码结果为
10，重复该过程，最终t的编码为101110。
[0037] 从上面可以看出原始的测试数据为00000001000100001000100000001000001，压缩后的数据为101110，压缩前35位，压缩后6位。
[0038] 通过以上压缩方法，提高了测试效率，由于将若干个测试向量甚至整个测试集映射到区间(0，1)，再通过多次二分区间的方法找到该位置，存储该二分区间的规律即可存储该若干个测试向量甚至整个测试集，占用空间较小，并且运算简单，非常实用。
[0039] 该二分区间的数据压缩方法可以应用在测试集成电路的测试中，其测试方法包括如下步骤：
[0040] a、根据待测试集成电路的电路结构生成包含若干故障的故障列表；
[0041] b、选择任一故障，运行自动测试向量生成工具(如：Synopsys公司的TetraMAX，开源的Atalanta，等)以此生成该故障的测试向量，同时将该故障点从故障列表中删除，最终形成级联后原始测试数据即测试向量序列S；
[0042] c、游程长度统计，统计级联后原始测试数据的游程长度Y1、Y2、……，Yn，其中，Yn表示为第n个测试向量的游程长度，n为正整数，将该测试向量按0类型游程统计游程长度，直到无关位结束。若无关位与前一游程可以组成同一游程，舍弃最后一游程长度，只记前若干游程长度；否则记前所有游程长度；
[0043] d、转化成小数，默认小数的整数部分为0，步骤c所统计的游程长度依次组成小数部分，转化的小数为0.Y1Y2……Yn，0.Y1Y2……Yn属于区间(0，1)；
[0044] e、初始化区间和原始编码，记t0＝0，t1＝1，原始编码为空；
[0045] f、二分区间，令 比较t′与t大小并编码，规则为：若t≤t′，编码增加1位数据0，令t1＝t′；若t＞t′，编码增加1位数据1，令t0＝t′，重复步骤f直到t＝t′。
[0046] 以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
