[0026] 以下结合附图进一步说明本发明的实施例。
[0027] 实施例一：
[0028] 一种移动终端关机性能评估方法，所述方法包括如下步骤：
[0029] S1，在所述移动终端中载入测试脚本；
[0030] S2，关闭所述移动终端，并记录所述移动终端的关机触发时间点t1；
[0031] S3，记录所述移动终端的内核非关联程序关闭时间点t2、内核非关联程序关闭结束时间点t3，计算出内核非关联程序关闭效率ta；
[0032] S4，记录所述移动终端的内核关联程序关闭时间点t4、内核关联程序关闭结束时间点t5，计算出内核关联程序关闭效率tb；
[0033] S5，记录所述移动终端的内核关闭时间点t6，内核关闭结束时间点t7，内核下电时间点t8，计算出内核关闭效率tc；
[0034] S6，根据所述内核非关联程序关闭效率ta、所述内核关联程序关闭效率tb、所述内核关闭效率tc对所述移动终端的关机性能进行测试评估，并计算出所述移动终端关机性能的评估结果。
[0035] 作为一种优选的实施方式，所述计算出内核非关联程序关闭效率tc具体包括：如果所述内核关闭效率为内核关闭的时间长度，则所述内核关闭效率的计算方法为：所述内核关闭结束时间点减去所述内核关闭时间点的差值，即tc=t7-t6；
[0036] 将上述差值作为内核关闭效率是一种精简的效率计算方法，这种计算方法主要用于满足一些常规的、初级的性能测试，在保证测试精度的情况下降低测试的复杂度。
[0037] 如果所述内核关闭效率为内核关闭的时间比，则所述内核关闭效率的计算方法为：tc=(t7-t6)/(t7-t5)。
[0038] 由于内核关闭阶段其关闭过程的关闭效率不仅涉及到内核关闭的直接占用时长，还与内核下电的时间相关，因此，广义上的内核关闭效率应该将内核下电的时间点也考虑在内，而内核下电时间点到内核真正开始关闭的时间长度占广义上内核关闭的时间长度比例与内核的反应速度是成正比的，该反应速度比较准确的反应了内核关闭阶段的关闭效率，因此，将该反应速度作为内核关闭效率的参考值，具体到图1中，内核下电时间点为t8，内核真正关闭的时间长度为t7-t6，广义上内核关闭的时间长度为t7-t5，因此，内核的反应速度为(t7-t6)/(t7-t5)，由于广义上的内核关闭效率与内核的反应速度是成正比的，因此，将tc=(t7-t6)/(t7-t5)作为广义上的内核关闭效率。
[0039] 作为一种优选的实施方式，所述计算出内核关联程序关闭效率tb具体包括：如果所述内核关联程序关闭效率为内核关联程序关闭的时间长度，则所述内核关联程序关闭效率的计算方法为：tb=t5-t4；
[0040] 将上述差值作为内核关联程序关闭效率是一种精简的效率计算方法，这种计算方法主要用于满足一些常规的、初级的性能测试，在保证测试精度的情况下降低测试的复杂度。
[0041] 如果所述内核关联程序关闭效率为内核关联程序关闭的时间比，则所述内核关联程序关闭效率的计算方法为：tb=(t5-t4)/(t5-t3)。
[0042] 与上述内核关闭阶段关闭效率计算方法类似的，tb是一种广义上的内核关联程序关闭效率的计算方法，具体的计算原理与上述内核关闭阶段关闭效率计算方法相同，在此不做重复表述。
[0043] 作为一种优选的实施方式，所述计算出内核非关联程序关闭效率ta具体包括：如果所述内核非关联程序关闭效率为内核非关联程序关闭的时间长度，则所述内核非关联程序关闭效率的计算方法为：ta=t3-t2；
[0044] 将上述差值作为内核非关联程序关闭效率是一种精简的效率计算方法，这种计算方法主要用于满足一些常规的、初级的性能测试，在保证测试精度的情况下降低测试的复杂度。
[0045] 如果所述内核非关联程序关闭效率为内核非关联程序关闭的时间比，则所述内核非关联程序关闭效率的计算方法为：tc=(t3-t2)/(t3-t1)。
[0046] 与上述内核关闭阶段关闭效率计算方法类似的，tc是一种广义上的内核非关联程序关闭效率的计算方法，具体的计算原理与上述内核关闭阶段关闭效率计算方法相同，在此不做重复表述。
[0047] 作为一种优选的实施方式，所述步骤S6具体包括：根据所述内核非关联程序关闭效率ta、所述内核关联程序关闭效率tb、所述内核关闭效率tc所占整个关机时间段的时间比重对所述移动终端的关机性能进行测试评估，并计算出所述移动终端关机性能的评估结果。通过综合考虑上述三个关闭效率及其所占比重，可以考虑到关机过程中的各个主要方面，因此，是一种全面的关机性能评估方法。
[0048] 作为一种优选的实施方式，所述步骤S6还包括：如果所述内核关闭效率为内核关闭的时间长度，所述内核关联程序关闭效率为内核关联程序关闭的时间长度，所述内核非关联程序关闭效率为内核非关联程序关闭的时间长度，则所述移动终端关闭性能的评估方法为：计算TA=ta/(ta+tb+tc)，TB=tb/(ta+tb+tc)，TC=tc/(ta+tb+tc)；并根据TA、TB、TC的值得出评估结果。
[0049] 例如，通过给出下表的参考值来确定评估结果。
[0050]TA TB+TC 评估结果
1 0.8 0.2 0 A
~ ~
0.8 0.6 0.4 0.2 B
~ ~
0.6 0.4 0.6 0.4 C
~ ~
0.4 0 1 0.6 D
~ ~
[0051] 需要说明的是，由于TA、TB、TC三者的和为1，而内核关闭阶段是关机性能的主要影响因素，因此，以TA作为关机性能的主要评估标准，将TB+TC的和作为次要的评估标准，与其对应的，评估结果按照性能良好到差依次分为A、B、C、D四个等级。此外，还可以采用以TA、TB、TC三个性能指标分别作为评估结果的评估标准，同样与其对应的，评估结果按照性能良好到差依次分为A、B、C、D四个等级。而评估等级也不限于以上四种，在此不做赘述。
[0052] 作为一种优选的实施方式，所述步骤S6还包括：如果所述内核关闭效率为内核关闭的时间比，所述内核关联程序关闭效率为内核关联程序关闭的时间比，所述内核非关联程序关闭效率为内核非关联程序关闭的时间比，则所述移动终端关机性能的评估方法为：计算评估值T=ta+tb+tc，并根据T的值与参考值的关系得出评估结果。该种评估方法是一种常规的评估方法，也是一种比重均衡的评估方法，这种评估方法要求关机的各个阶段都有稳定的关机性能。
[0053] 作为一种优选的实施方式，所述参考值为2.4。选取2.4的依据是，上述三个关机每个阶段都能达到0.8的达标性能。此外，还可以根据对关机性能的不同严格等级设置该参考值，在此不做赘述。
[0054] 本发明提出了一种准确度高、集成度高、效率高的电子装置关机性能测试评估方法，通过检测移动终端在关机的各个时间点，并由此计算出被测移动终端在各个时间阶段的关闭效率，最终对所述移动终端的关机性能进行测试评估。该方法首先准确记录关机过程中的各个关键时间节点，该时间节点涵盖了关机过程中对移动终端关机性能影响显著的主要时间节点，因此，测试的时间点准确而全面，为后续关机性能的评估提供了准确的依据。其次，根据各个阶段关闭效率的不同定义，给出基于不同定义的不同的关机性能评估公式，评估方法具有一定的灵活性，以适应不同的测试需求。最后，集关机参数获取与关机性能评估于一体，大大提高了移动终端在出厂前测试的集成度和效率，为移动终端在开发、测试过程中的改进完善提供便利，从而缩短了移动终端的研发周期。
[0055] 以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
