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针对屏蔽差分硅通孔的RL无源均衡器结构及其设计方法   0    0

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专利申请流程有哪些步骤?
专利申请流程图
申请
申请号:指国家知识产权局受理一件专利申请时给予该专利申请的一个标示号码。唯一性原则。
申请日:提出专利申请之日。
2018-06-06
申请公布
申请公布指发明专利申请经初步审查合格后,自申请日(或优先权日)起18个月期满时的公布或根据申请人的请求提前进行的公布。
申请公布号:专利申请过程中,在尚未取得专利授权之前,国家专利局《专利公报》公开专利时的编号。
申请公布日:申请公开的日期,即在专利公报上予以公开的日期。
2019-01-04
授权
授权指对发明专利申请经实质审查没有发现驳回理由,授予发明专利权;或对实用新型或外观设计专利申请经初步审查没有发现驳回理由,授予实用新型专利权或外观设计专利权。
2022-03-22
预估到期
发明专利权的期限为二十年,实用新型专利权期限为十年,外观设计专利权期限为十五年,均自申请日起计算。专利届满后法律终止保护。
2038-06-06
基本信息
有效性 有效专利 专利类型 发明专利
申请号 CN201810575644.1 申请日 2018-06-06
公开/公告号 CN108988815B 公开/公告日 2022-03-22
授权日 2022-03-22 预估到期日 2038-06-06
申请年 2018年 公开/公告年 2022年
缴费截止日
分类号 H03H7/06G06F30/367G06F30/373H01L23/48 主分类号 H03H7/06
是否联合申请 独立申请 文献类型号 B
独权数量 1 从权数量 0
权利要求数量 1 非专利引证数量 1
引用专利数量 4 被引证专利数量 0
非专利引证 1、2016.06.16Ruey-Bo Sun et al.Passive EqualizerDesign for Through Silicon Vias withPerfect Compensation《.IEEE TRANSACTIONSON COMPONENTS, PACKAGING ANDMANUFACTURING TECHNOLOGY》.2011,第1815-1822页.;
引用专利 KR101278442B、US2018096931A、US2014048908A、US2016172734A 被引证专利
专利权维持 4 专利申请国编码 CN
专利事件 事务标签 公开、实质审查、授权
申请人信息
申请人 第一申请人
专利权人 杭州电子科技大学 当前专利权人 杭州电子科技大学
发明人 赵文生、傅楷、徐魁文、董林玺、王高峰 第一发明人 赵文生
地址 浙江省杭州市下沙高教园区2号大街 邮编 310018
申请人数量 1 发明人数量 5
申请人所在省 浙江省 申请人所在市 浙江省杭州市
代理人信息
代理机构
专利代理机构是经省专利管理局审核,国家知识产权局批准设立,可以接受委托人的委托,在委托权限范围内以委托人的名义办理专利申请或其他专利事务的服务机构。
杭州君度专利代理事务所 代理人
专利代理师是代理他人进行专利申请和办理其他专利事务,取得一定资格的人。
黄前泽
摘要
本发明公开一种针对屏蔽差分硅通孔的RL无源均衡器结构及其设计方法。本发明由多个单元构成;所述单元由硅衬底到金属层方向依次包括位于硅衬底中的屏蔽差分硅通孔,位于绝缘层中的两个输入端口和构成均衡器的片上电阻,以及位于最外层金属层的片上电容和输出端口;此结构利用电阻‑电感(Resistance‑Inductance,RL)谐振电路的思路设计而成。此结构可以有效解决数字差分信号传输系统中存在的码间串扰问题,使传输频带变得平坦,有效提高了高速数字信号的传输质量。
  • 摘要附图
    针对屏蔽差分硅通孔的RL无源均衡器结构及其设计方法
  • 说明书附图:图1A
    针对屏蔽差分硅通孔的RL无源均衡器结构及其设计方法
  • 说明书附图:图1B
    针对屏蔽差分硅通孔的RL无源均衡器结构及其设计方法
  • 说明书附图:图2
    针对屏蔽差分硅通孔的RL无源均衡器结构及其设计方法
  • 说明书附图:图3A
    针对屏蔽差分硅通孔的RL无源均衡器结构及其设计方法
  • 说明书附图:图3B
    针对屏蔽差分硅通孔的RL无源均衡器结构及其设计方法
  • 说明书附图:图4
    针对屏蔽差分硅通孔的RL无源均衡器结构及其设计方法
  • 说明书附图:图5
    针对屏蔽差分硅通孔的RL无源均衡器结构及其设计方法
  • 说明书附图:图6
    针对屏蔽差分硅通孔的RL无源均衡器结构及其设计方法
  • 说明书附图:图7A
    针对屏蔽差分硅通孔的RL无源均衡器结构及其设计方法
  • 说明书附图:图7B
    针对屏蔽差分硅通孔的RL无源均衡器结构及其设计方法
法律状态
序号 法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
1 2022-03-22 授权
2 2019-01-04 实质审查的生效 IPC(主分类): H03H 7/06 专利申请号: 201810575644.1 申请日: 2018.06.06
3 2018-12-11 公开
权利要求
权利要求书是申请文件最核心的部分,是申请人向国家申请保护他的发明创造及划定保护范围的文件。
1.针对屏蔽差分硅通孔的RL无源均衡器结构的器件参数设计方法,其中所述针对屏蔽差分硅通孔的RL无源均衡器结构,由多个单元构成,所述单元由硅衬底到金属层方向依次包括位于硅衬底中的屏蔽差分硅通孔,位于最底层屏蔽差分硅通孔内部的输入端口,位于最底部金属层的输出端口,连接均衡器的片上过孔和位于最外层金属层的螺旋电感;
所述屏蔽差分硅通孔由内向外依次包括内部差分硅通孔对和屏蔽外壳;所述内部差分硅通孔对由两个结构相同的柱状硅通孔组成,用于三维集成电路中层间差分信号的传输,其中柱状硅通孔由金属内芯和外圈氧化层组成,金属内芯用于传输电流,外圈氧化层用于隔绝直流泄漏;所述屏蔽外壳由环形金属内芯和内外两层氧化层组成,用于充当电流返回路径的同时隔绝外界干扰,其中环形金属内芯接地用于充当电流返回路径,内外圈氧化层用于隔绝直流泄漏;
所述输入端口位于最底层屏蔽差分硅通孔的内部差分硅通孔;
所述输出端口与屏蔽差分硅通孔的内部差分硅通孔相连;
差分信号由最底层屏蔽差分硅通孔的内部差分硅通孔流入,经片上过孔和螺旋电感外侧端口流入螺旋电感,实现均衡作用后,再由螺旋电感内侧端口流入屏蔽差分硅通孔的屏蔽外壳中 ;同时,差分信号经片上过孔由输出端口输出;
其特征在于包括以下步骤:
步骤一,输入屏蔽差分硅通孔的制造工艺信息:
所述屏蔽差分硅通孔的制造工艺信息包括第一氧化层厚度,第二氧化层厚度,硅通孔高度,金属内芯、环形金属内芯的半径以及氧化层、金属内芯、环形金属内芯、硅衬底的电学参数;
步骤二,利用步骤(1)的制造工艺信息计算差分屏蔽硅通孔的电学参数所述的差分屏蔽硅通孔电学参数包括电阻R、电感L、互感Lm、氧化层电容Cox、衬底电容Csi、衬底电导Gsi;
步骤三,利用步骤(2)获得的差分屏蔽硅通孔的电学参数推导等效电路图,由于差分屏蔽硅通孔被用于传输差分信号,遂由初始等效电路图再次推导差分信号传输时的奇模等效电路;
步骤四,保证屏蔽差分硅通孔传输损耗在可接受误差的条件下,将步骤(3)得出的奇模等效电路化简,以方便后续推导;
步骤五,在步骤(4)的最简化奇模等效电路中,求得差分传输系统的频率响应,并计算均衡器参数;
由于常规系统频率响应均为复频率 的函数,但是为达到均衡目的,需要设计合适均衡器电阻Req和电容Ceq,使得系统频率响应与复频率 无关,此时均衡器工作在最优状态;故而将系统频率响应计算公式中包含复频率 的项消去,即可求得电阻Req和电容Ceq。
说明书

技术领域

[0001] 本发明属于无源电子器件技术领域,涉及一种针对差分信号传输的RL无源均衡器结构及其设计方法。

背景技术

[0002] 差分传输方式已经成为高速数字信号传输系统的一项重要技术。差分传输对外界干扰拥有较高的效抑制能力,可有效提升信号的传输质量。在三维集成电路中,针对硅通孔技术的差分传输结构可以有效提高系统集成度、降低能量损耗、提高系统稳定性。对此,研究人员提出地‑信号‑信号‑地(Ground‑Signal‑Signal‑Ground,G‑S‑S‑G)结构的差分硅通孔传输结构来改善高速信号的传输质量,但此结构无法消除差分对之间的串扰。中国专利号第105810663 A号专利中提出的屏蔽差分硅通孔(Shield Differential Through‑Silicon Via,SD‑TSV)结构有效弥补了G‑S‑S‑G结构的不足。此结构可以在传输差分信号的同时,有效屏蔽差分对之间的串扰,进而更加改善差分信号传输质量。
[0003] 但随着信号频率提高到GHz频段,由硅通孔结构导致的信号传输损耗也变得越来越严重。硅通孔周围的氧化层所形成的氧化层电容会起到隔绝直流泄漏的作用,但会加剧高频信号泄漏到衬底中。随着三维集成电路堆叠层数的增加,硅通孔造成的传输损耗变得越来越明显,具体表现在高速数字信号传输系统中眼图的质量变差。研究表明,当硅通孔的堆叠层数超过8层时,高速数字信号的眼图会完全闭合。此外,差分传输结构也很难解决数字通信系统中存在的码间串扰问题。随着信号传输速率的提高,硅衬底造成的频率损耗也带来了显著的码间串扰问题。
[0004] 因此,在针对硅通孔的高速数字信号传输系统中需要均衡器来提高信号的传输质量。有源均衡器是解决码间串扰问题最普遍和传统的方法,但其带来的限制系统带宽和过多的接口能量损耗等负面效应影响了其功能的发挥。为解决有源均衡器所带来的问题,学者们提出利用无源均衡器进行频率补偿的思路。无源均衡器适用于高带宽、低功耗系统,因此其更具发展潜力。但是针对高速数字信号传输系统中屏蔽差分硅通孔传输存在的码间串扰问题还没有特制的无源均衡器。

发明内容

[0005] 本发明针对现有技术的不足,公开一种针对屏蔽差分硅通孔的RL无源均衡器结构及其设计方法,此结构利用电阻‑电感(Resistance‑Inductance,RL)谐振电路的思路设计而成。此结构可以有效解决数字差分信号传输系统中存在的码间串扰问题,使传输频带变得平坦,有效提高了高速数字信号的传输质量。
[0006] 本发明针对屏蔽差分硅通孔的RL无源均衡器由多个单元构成,输入端口位于最底层屏蔽差分硅通孔内部,输出端口位于最底部金属层上。
[0007] 所述单元由硅衬底到金属层向上方向依次包括位于硅衬底中的屏蔽差分硅通孔,位于最底部金属层的输出端口,连接均衡器的片上过孔和位于最外层金属层的螺旋电感。
[0008] 所述屏蔽差分硅通孔位于硅衬底中,由内向外依次包括内部差分硅通孔对和屏蔽外壳。所述内部差分硅通孔对由两个结构相同的柱状硅通孔组成,用于三维集成电路中层间差分信号的传输,其中柱状硅通孔由金属内芯和外圈氧化层组成,金属内芯用于传输电流,外圈氧化层用于隔绝直流泄漏。所述屏蔽外壳由环形金属内芯和内外两层氧化层组成,用于充当电流返回路径的同时隔绝外界干扰,其中环形金属内芯接地用于充当电流返回路径,内外圈氧化层用于隔绝直流泄漏。
[0009] 所述差分传输结构的输入端口位于最底层屏蔽差分硅通孔内部,也就是最底层屏蔽差分硅通孔的内部差分柱状硅通孔。所述差分传输结构的输出端口位于最底部金属层上,输出端口与屏蔽差分硅通孔的内部差分硅通孔对相连。差分信号流经屏蔽差分硅通孔和RL无源均衡器后由输出端口流出。
[0010] 所述螺旋电感位于最外层金属层上,其为金属线的螺旋结构,可提供均衡器所需的电感和电阻参数。
[0011] 为使均衡器达到最佳工作效果,所述构成均衡器的器件参数需要通过实际应用推导得出。本发明的另一种目的是公开上述针对差分屏蔽硅通孔的RL无源均衡器的器件参数计算方法,该方法包括以下步骤:
[0012] 步骤一,输入屏蔽差分硅通孔的制造工艺信息:
[0013] 所述屏蔽差分硅通孔的制造工艺信息包括第一、二氧化层厚度,硅通孔高度,金属内芯、环形金属内芯的半径以及氧化层、金属内芯、环形金属内芯、硅衬底的电学参数 (介电常数、磁导率、电导率)。
[0014] 步骤二,利用步骤(1)的制造工艺信息计算差分屏蔽硅通孔的电学参数
[0015] 所述的差分屏蔽硅通孔电学参数包括电阻R、电感L、互感Lm、第一氧化层电容Cox1、第二氧化层电容Cox2、第一衬底电容Csi1、第二衬底电容Csi2、第一衬底电导Rsi1和第二衬底电导Rsi2等。这里属于常规技术,故不详解。
[0016] 步骤三,利用步骤(2)获得的差分屏蔽硅通孔的电学参数推导等效电路图,由于差分屏蔽硅通孔被用于传输差分信号,遂由初始等效电路图再次推导差分信号传输时的奇模等效电路;这里属于常规技术,故不详解。
[0017] 步骤四,保证屏蔽差分硅通孔传输损耗在可接受误差(本领域技术人员根据经验获得)的条件下,将步骤(3)得出的奇模等效电路化简,以方便后续推导。
[0018] 步骤五,在步骤(4)的最简化奇模等效电路中,求得差分传输系统的频率响应,并计算均衡器参数。
[0019] 所述系统频率响应的计算公式属于常规技术。
[0020] 由于常规系统频率响应均为复频率s的函数,但是为达到均衡目的,需要设计合适均衡器电阻Req和电容Leq,使得系统频率响应与复频率s无关,此时均衡器工作在最优状态。故而将系统频率响应计算公式中包含复频率s的项消去,即可求得电阻Req和电容 Leq。
[0021] 本发明的有益效果:
[0022] 本发明设计了针对屏蔽差分硅通孔的RL无源均衡器,并公开了一种针对差分信号的无源均衡器器件参数设计方法,有益效果主要体现在:
[0023] 1、本发明可使得差分信号传输系统的频带变得平坦,显著提高了高频差分信号的传输质量,尤其体现在高速数字差分传输系统眼图质量变好。
[0024] 2、本发明可精确计算特定差分传输系统所需的RL无源均衡器的器件参数,可使得差分传输信号的质量达到最优。
[0025] 3、本发明适用于高带宽、低功耗差分信号传输系统。

实施方案

[0037] 以下结合附图对本发明作进一步说明。
[0038] 图1A‑B为中国专利号第105810663A号公开的屏蔽差分硅通孔100结构的俯视图和中心剖视图。所述屏蔽差分硅通孔100位于硅衬底中,由内向外依次包括内部差分硅通孔对和屏蔽外壳。所述内部差分硅通孔对由两个结构相同的柱状硅通孔组成,用于三维集成电路中层间差分信号的传输。所述柱状硅通孔由金属内芯101和外圈氧化层102 组成,其中金属内芯101用于传输电流,外圈氧化层102用于隔绝直流泄漏。所述屏蔽外壳由内层氧化层103、环形金属内芯104和外层氧化层105组成,用于充当电流返回路径的同时隔绝外界干扰。所述环形金属内芯104接地用于充当电流返回路径,内外圈氧化层103和105用于隔绝直流泄漏;
[0039] 图2为本发明螺旋电感200的结构图,所述螺旋电感200位于最外层金属层上,其为金属线的螺旋结构,可提供均衡器所需的电感和电阻参数。螺旋电感包含第一端口201 和第二端口202,用于与差分传输结构相连。
[0040] 图3A‑B为本发明针对屏蔽差分硅通孔的RL无源均衡器结构中心剖视图和俯视图。所述差分传输结构的输入端口位于最底层屏蔽差分硅通孔100内部,也就是最底层屏蔽差分硅通孔的内部差分柱状硅通孔101。所述差分传输结构的输出端口303位于最底部金属层上,输出端口303与屏蔽差分硅通孔的内部差分硅通孔101对相连。差分信号流经屏蔽差分硅通孔100和螺旋电感200后由输出端口303流出。
[0041] 本发明的工作过程如下:差分信号由最底层屏蔽差分硅通孔100的内部差分硅通孔 (输入端口)流入,之后流经片上第一过孔301和电感第一端口201(螺旋电感的外侧端口)后,实现均衡作用,之后由电感第二端口202(螺旋电感的内侧端口)流入屏蔽差分硅通孔100的屏蔽外壳104中。与此同时,差分信号流经第二过孔302由输出端口303输出。
[0042] 为使均衡器达到最佳工作效果,所述构成均衡器的电阻和电感组件的器件参数需要通过实际应用推导得出。本发明的另一种目的是公开上述针对差分屏蔽硅通孔的RL无源均衡器的器件参数计算方法,该方法包括以下具体步骤:
[0043] 步骤一,输入屏蔽差分硅通孔的制造工艺信息:
[0044] 所述屏蔽差分硅通孔的制造工艺信息包括第一、二氧化层厚度,硅通孔高度,金属内芯、环形金属内芯的半径以及氧化层、金属内芯、环形金属内芯、硅衬底的电学参数 (介电常数、磁导率、电导率)。
[0045] 步骤二,利用步骤(1)的制造工艺信息计算差分屏蔽硅通孔的电学参数
[0046] 所述的差分屏蔽硅通孔电学参数包括电阻R、电感L、互感Lm、第一氧化层电容 Cox1、第二氧化层电容Cox2、第一衬底电容Csi1、第二衬底电容Csi2、第一衬底电导Rsi1和第二衬底电导Rsi2等。这里属于常规技术,故不详解。
[0047] 步骤三,利用步骤(2)获得的差分屏蔽硅通孔的电学参数推导等效电路图(如图4),由于差分屏蔽硅通孔被用于传输差分信号,遂由初始等效电路图再次推导差分信号传输时的奇模等效电路;这里属于常规技术,故不详解。
[0048] 步骤四,保证屏蔽差分硅通孔传输损耗在可接受误差(本领域技术人员根据经验获得)的条件下,将步骤(3)得出的奇模等效电路化简,以方便后续推导。如图5所示。简化电路推导步骤如下:
[0049] 因为硅衬底导纳在高频时对系统传输特性其主要影响,第二氧化层电容Cox2,第一衬底电容Csi1和第二衬底电容Csi2可以忽略,此时硅衬底导纳参数为Rsi=1/(2Gsi1+Gsi2)。且通过比较传输结构的串联阻抗Zserise=(R+jω(L‑Lm))/Z0和并联导纳 Yshunt=Z0/(Rsi+1/(2Csi1+Csi2))可知,Zserise远小于Yshunt,因此可将R,L,Lm忽略。步骤五,在步骤(4)的最简化奇模等效电路中,求得差分传输系统的频率响应,并计算均衡器参数。所述系统频率响应为:
[0050]
[0051] 由频率响应计算结果可以看出,其为复频率s的函数,其中均衡器电阻Req和电感 Leq为未知数。只需将包含复频率s的项消去,联立方程组:
[0052]
[0053] 得电阻Req和电感Leq即为使得均衡器工作在最优状态的器件参数,如下:
[0054]
[0055] 步骤五,利用公式求得器件参数并设计均衡器,均衡结果如图6所示。可见差分传输系统的频带相比无均衡传输时明显平坦很多,因此本发明达到提高高频差分信号传输质量的目的。同时,通过仿真得到本差分传输系统的眼图,可以看到相较无均衡器的情况(图7A),加入RL均衡器之后差分系统的眼高和眼宽都有明显增大(图7B)。所述眼高由33mV增大到0.184V,眼宽由22ps增大到48.75ps。

附图说明

[0026] 图1A‑B为中国专利第105810663A号专利中提出的屏蔽差分硅通孔俯视图和剖视图;
[0027] 图2为本发明螺旋电感组件的结构图;
[0028] 图3A‑B分别为本发明针对屏蔽差分硅通孔的RL无源均衡器剖视图和俯视图;
[0029] 图4为本发明屏蔽差分硅通孔的完整等效电路图;
[0030] 图5为本发明屏蔽差分硅通孔的简化电路以及与均衡器电路连接示意图;
[0031] 图6为本发明针对屏蔽差分硅通孔的RL无源均衡器的工作效果图。
[0032] 图7A为本发明屏蔽差分硅通孔传输结构的传输眼图;
[0033] 图7B为本发明加入均衡器之后屏蔽差分硅通孔传输结构的传输眼图;
[0034] 图1A‑B中标记如下:屏蔽差分硅通孔100,内部柱状硅通孔内芯101,第一氧化层102,第二氧化层103,环形屏蔽外壳内芯104,第三氧化层105;
[0035] 图2中标记如下:螺旋电感200,电感第一端口201,电感第二端口202。
[0036] 图3A‑B中标记如下:片上第一过孔301,片上第二过孔302,输出端口303,其他标记同图1A‑B和图2相同。
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