[0039] 为了使本领域相关技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面将结合本发明实施方式的附图，对本发明实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式仅仅是本发明一部分实施方式，而不是全部的实施方式。
[0040] 本发明提供了一种通信终端回环功能的测试治具，用于测试待测终端的回环功能是否合格，图1为测试治具的第一实施例的结构示意图，如图1所示，测试治具1包括：触发模块11、处理模块12、接口模块13与显示模块14。
[0041] 其中，触发模块11，用于发送测试指令。其中触发模块11可以为按钮形式也可以为触控形式。
[0042] 处理模块12，电性连接所述触发模块11，用于根据所述测试指令发送回环指令与测试报文，其中，所述回环指令用于命令待测终端2返回发送接收到的所述测试报文。
[0043] 需要说明的是，触发模块11与处理模块1一般通过MDC/MDIO协议电性连接，为了提高这个两个模块之间的响应速度，较优地使用MDC最高速率为12.5MHZ的总线进行电性连接，以加快数据的反馈速度，加快检测速率。
[0044] 接口模块13，电性连接所述处理模块12与所述待测终端2，用于接入所述待测终端2，使所述待测终端2与所述处理模块12电性连接，实现了所述待测终端2与所述测试治具1之间的电性连接。
[0045] 需要说明的是，如果所述待测终端2为光纤终端时，所述接口模块13还应包括光电转换模块，将传输的数据进行光电转换。例如待测终端2为光纤终端时，光电转换模块将处理模块12发送的回环指令与测试报文从电信号转换成光信号发送至待测终端2，当待测终端2返回发送测试报文时，光电模块则将测试报文从光信号转换成电信号发送至处理模块12。
[0046] 所述处理模块12还电性连接所述显示模块14，用于当接收到所述待测终端2返回发送的所述测试报文时，发送合格的测试结果至所述显示模块14；在第一预设时间内未接收到所述测试报文时，发送不合格的测试结果至所述显示模块14。
[0047] 在实际操作中，由于待测试终端反馈数据速度较慢，而设置判断待测终端返回发送测试报文的预设时间过短，造成错误判断其为不合格的情况会造成不必要的检测错误导致经济上的损失。
[0048] 优选地，所述处理模块12还用于当在第一预设时间内所述处理模块12未接收到所述测试报文时，所述处理模块12发送所述回环指令与测试报文；当所述处理模块12累计发送所述回环指令与测试报文次数大于预设次数时，发送不合格的测试结果至所述显示模块14。
[0049] 例如，第一预设时间设置为0.5s，预设次数设置为3次时，当0.5s时未接收到待测终端返回发送的测试报文，则处理模块12再发送回环指令与测试报文2次，当第三次发送后的0.5s后仍未接收到测试报文时，则发送不合格的测试结果至显示模块14。
[0050] 进一步地，当所述处理模块12发送所述回环指令与测试报文时累计次数大于等于一次时，增加所述预设时间至第二预设时间。
[0051] 为了极大限度的减少因预设时间过小而造成的损失，可以预设第二预设时间，自动延长时间。
[0052] 例如，第一预设时间设置为0.5s，第二预设时间设置为0.6s，预设次数为3次时，当0.5s时未接收到测试终端返回发送的测试报文，则处理模块12再发送回环指令与测试报文
2次。第二次与第三次发送的间隔时间为0.6s，第三次发送后的0.6s后未接收到测试报文，则发送不合格的测试结果至显示模块14。
[0053] 为了加快测试速度，所述处理模块12还包含寄存器(图中未画出)，当所述处理模块12接收到所述待测终端返回发送的所述测试报文时，修改所述寄存器的标记位；当所述寄存器的标记位更改时，所述处理模块12发送合格的测试结果至所述显示模块14。
[0054] 由于寄存器标记位一般为通过设备断电来将其的标记位清零，在测试过程中每进行一次测试操作，待测终端则就需要重新断电上电一次较为麻烦。
[0055] 优选地，所述处理模块12还用于当所述处理模块发送合格的测试结果至所述显示模块后，将所述寄存器的标记位清零。
[0056] 优选地，所述处理模块12还用于当所述接口模块与所述待测终端电性连接断开时，将所述寄存器的标记位清零。
[0057] 为了增强该测试治具的通用性，本发明还提供了一种通信终端回环功能的测试治具的第二实施例，如图2所示，所述第二实施例与第一实施例的区别在于，所述测试治具1还包括数据库模块15。其中，所述数据库模块15包含一个以上回环指令及对应的测试报文。通过增加数据库模块15中的回环指令与对应的测试报文使测试治具1可以测试多个型号的待测终端。
[0058] 所述处理模块12还电性连接所述数据库模块15，用于当接收所述测试指令时，发送所述数据库模块中的所有的回环指令与对应的测试报文。
[0059] 如果数据库模块15中的回环指令与其对应的测试报文过多，处理模块12将所有回环指令与对应的测试报文一起发送至待测终端会导致测试速度减慢。
[0060] 在其他实施例中，提供的数据库模块15用于提供待测终端型号、回环指令及测试报文的对应关系表。所述触发模块11还包括选择单元(图中未画出)，用于提供选择待测终端型号。
[0061] 所述处理模块12还电性连接所述数据库模块15，用于当接收所述测试指令并获取待测终端型号时，根据所述对应关系表获取对应的所述回环指令与测试报文。
[0062] 处理模块12将待测终端对应的回环指令与测试报文发送至待测终端，在通用的基础上，加快了测试速率。
[0063] 如上所述，本发明提供的一种通信终端回环功能的测试治具，具有以下的有益效果：
[0064] 1)模拟PC端与局端设备设备，实现PC端与局端设备设备中测试回环功能的整合，简化了搭建环境，且不需要PC端进行操作，适合测试人员使用，简单快捷。
[0065] 2)通过在预设时间未收到所述测试报文时，再次发送回环指令与测试报文的手段，降低了因设置的预设时间较短而造成的测试结果错误的几率。
[0066] 3)通过判断寄存器标记是否被更改作为判断测试报文是否返回，加快了测试速率。
[0067] 4)自动将寄存器清零功能，不需反复通过对测试治具进行断电与上电操作来实现寄存器的标记位清零。
[0068] 5)增加了数据库模块与选择单元，使测试设备可以测试不同型号的通信终端，增加了其通用性。
[0069] 6)使用MDC最高速率为12.5MHZ的总线将所述触发模块与所述处理模块进行电性连接，加快了数据反馈的速度，加快了检测速率。
[0070] 以上仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
